[发明专利]波导阵列天线高功率性能测试装置

摘要

本发明公开了一种波导阵列天线高功率性能测试装置，包括微波源，环形器，真空室，真空规管，待测天线单元，波导弧光探测器，陶瓷窗，波导弯头，定向耦合器，阻抗失配器和水负载等。微波源输出大功率微波；环行器用于吸收反射波，保护微波源；真空室用于建立、维持、并改变待测天线单元所处环境的真空度；真空规管用于测量真空室内部的真空度；波导弧光探测器用于探测待测天线单元内部的打火；陶瓷窗实现真空室与微波传输线的气体密封和能量传输；波导弯头用于改变微波传播方向；定向耦合器通过对微波信号进行取样，测量入射和反射功率大小；阻抗失配器的作用是人为引入传输失配，制造所需比例的反射功率；水负载用于吸收近乎全部的入射功率。

主权项

波导阵列天线高功率性能测试装置，其特征在于：包括有供待测天线单元放置的真空室，真空室上安装有测量真空室内部真空度的真空规管，真空室一侧设置有微波源、环形器、第一陶瓷窗、第一波导弯头、第二波导弯头，所述微波源依次连接环形器、第一陶瓷窗、第一波导弯头的一端，第一波导弯头的另一端与第二波导弯头的一端连接，第二波导弯头另一端连接至真空室内待测天线单元的一端；真空室另一侧设置有水负载、阻抗失配器、定向耦合器、第二陶瓷窗、第三波导弯头、第四波导弯头，真空室内待测天线单元另一端与第三波导弯头一端连接，第三波导弯头另一端与第四波导弯头一端连接，第四波导弯头另一端依次连接第二陶瓷窗、定向耦合器、阻抗失配器、水负载；所述微波源输出大功率微波功率，微波功率依次经过环形器、陶瓷窗，再被第一波导弯头、第二波导弯头改变传播方向后，进入真空室中待测天线单元的一端，微波功率沿待测天线单元传播至第三波导弯头，经第三波导弯头、第四波导弯头改变传播方向后，经过第二陶瓷窗传播至定向耦合器，由定向耦合器对微波功率进行取样，测量入射和反射功率大小，定向耦合器中微波功率传播至阻抗失配器，通过阻抗失配器人为引入传输失配，制造所需比例的反射功率，阻抗失配器中微波功率最后传播至水负载，以水负载作为终端匹配装置，吸收近乎全部的微波入射功率。