[发明专利]位置改变测量装置、位置改变测量方法和图像形成设备有效
申请号: | 201410095506.5 | 申请日: | 2014-03-14 |
公开(公告)号: | CN104049487B | 公开(公告)日: | 2016-11-30 |
发明(设计)人: | 高浦淳;增田浩二;二瓶靖厚;上田健;工藤宏一;天田琢;清水研一;田村麻人 | 申请(专利权)人: | 株式会社理光 |
主分类号: | G03G15/00 | 分类号: | G03G15/00;G01B11/02 |
代理公司: | 上海市华诚律师事务所 31210 | 代理人: | 肖华 |
地址: | 日本东京都大*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明的目的在于获得一种位置改变测量装置、位置改变测量方法和图像形成设备,该位置改变测量装置通过使用光斑图案来测量动态测量表面的位置改变,同时容易减少测量环境温度的波动的影响。位置改变测量装置包括:光源;照明光学系统,该照明光学系统被配置成将来自光源的光引导到被测量表面;成像光学系统;图像拾取装置,该图像拾取装置被配置成通过经由成像光学系统接收来自被测量表面的反射光来获得光斑图案;和检测长度补偿部件,该检测长度补偿部件用于补偿由温度波动所引起的检测长度的波动。基于对以预定时间间隔获得的多个光斑图案所进行的互相关计算的结果来测量测量表面的位置改变。 | ||
搜索关键词: | 位置 改变 测量 装置 测量方法 图像 形成 设备 | ||
【主权项】:
一种位置改变测量装置,其特征在于,包含:光源;照明光学系统,所述照明光学系统被配置成将来自所述光源的光引导到被测量表面;成像光学系统;图像拾取装置,所述图像拾取装置被配置成通过经由所述成像光学系统接收来自所述被测量表面的反射光,来获得光斑图案;和检测长度补偿部件,所述检测长度补偿部件用于补偿由温度波动所引起的检测长度的波动,其中基于对以预定时间间隔获得的多个光斑图案进行的互相关计算的结果,来测量所述被测量表面的位置改变,所述检测长度补偿部件通过使用由所述成像光学系统的焦距的改变而导致的所述检测长度的光学波动,来补偿由所述光源和所述照明光学系统的位置的改变而导致的所述检测长度的机械波动。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于株式会社理光,未经株式会社理光许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410095506.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种振动筛
- 下一篇:一种自动翻转管箍卡盘装置