[发明专利]支柱瓷绝缘子表面及近表面缺陷超声波相控阵检测方法在审
申请号: | 201410099885.5 | 申请日: | 2014-03-18 |
公开(公告)号: | CN104034799A | 公开(公告)日: | 2014-09-10 |
发明(设计)人: | 张昕;李军;苗兴;袁芳;高健;杨景健;杨占君;李玉鹏;王斌;赵明忠;白涛;孙小平;席家福 | 申请(专利权)人: | 国家电网公司;国网甘肃省电力公司;国网甘肃省电力公司电力科学研究院 |
主分类号: | G01N29/04 | 分类号: | G01N29/04 |
代理公司: | 北京中恒高博知识产权代理有限公司 11249 | 代理人: | 宋敏 |
地址: | 100031 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种支柱瓷绝缘子表面及近表面缺陷超声波相控阵检测方法,包括探头前方不使用楔块或只采用很薄的保护膜,使得超声波相控阵纵波检测在工件内部真正实现近180°范围内的扫查,压电晶片直接作用于被检工件内部产生纵波,主声束在传播过程中不发生波型转换,通过相控阵超声检测的声束偏转和聚焦法则,实现被检工件表面及近表面的大角度扫查目的。特别是在一定的范围内,是检测支柱绝缘子表面及近表面缺陷灵敏度很高的方法,取得了理想的效果。 | ||
搜索关键词: | 支柱 绝缘子 表面 缺陷 超声波 相控阵 检测 方法 | ||
【主权项】:
支柱瓷绝缘子表面及近表面缺陷超声波相控阵检测方法,包括,探头前方不使用楔块,将压电晶片直接作用于被检工件表面产生纵波,主声束在传播过程中不发生波型转换,通过相控阵超声检测的声束偏转和聚焦法则,实现对被检工件表面及近表面大角度的扫查。
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