[发明专利]平行多工测试系统及测试方法在审

专利信息
申请号: 201410100929.1 申请日: 2014-03-18
公开(公告)号: CN104931086A 公开(公告)日: 2015-09-23
发明(设计)人: 江宗南;连圣贤;郑克勇;宋锡祥;傅宪杰 申请(专利权)人: 光宝电子(广州)有限公司;光宝科技股份有限公司
主分类号: G01D21/00 分类号: G01D21/00
代理公司: 隆天知识产权代理有限公司 72003 代理人: 赵根喜;李昕巍
地址: 510730 广东省广州市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明实施例提供一种平行多工测试系统及测试方法,所述平行多工测试系统用于以N个测试信号透过N个测试通道对N个隔离箱内的N个受测装置进行测试,所述平行多工测试系统包括中央处理单元与N个功能测试模块,其中N为大于1的正整数。平行多工测试系统根据N个受测装置尚未测试的测项去请求相对应的闲置的测试模块进行对应的功能测试,以使全部的受测装置同时透过不同的测试通道来进行不同的功能测试。本发明可节省生产测试成本、测试时间、人力。
搜索关键词: 平行 测试 系统 方法
【主权项】:
一种平行多工测试系统,用于以N个测试信号透过N个测试通道对N个隔离箱内的N个受测装置进行测试,其特征在于,该平行多工测试系统包括:一中央处理单元,根据一固件来判断该些受测装置中尚未测试的项目并且传送至少一指示信号以进行测试;以及N个功能测试模块,电性连接该中央处理单元,该些功能测试模块根据该指示信号来与相对应的该受测装置进行对应的功能测试,每一该些功能测试模块具有不同的测试功能,其中在一测试周期的一时间槽,该平行多工测试系统根据该固件寻找相对应的该些功能测试模块对该些受测装置进行对应的功能测试,以使全部的该些受测装置同时透过不同的该些测试通道来进行不同的功能测试,其中N为大于1的正整数,其中在该测试周期的另一时间槽,该中央处理单元根据该固件来判断该些受测装置中尚未测试的项目并且传送该指示信号至对应的该些功能测试模块,以发出该些测试信号经过该些测试通道来测试对应的该些受测装置。
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