[发明专利]超声波测定系统、超声波探测器及片材在审

专利信息
申请号: 201410101208.2 申请日: 2014-03-18
公开(公告)号: CN104068889A 公开(公告)日: 2014-10-01
发明(设计)人: 清濑摄内 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: A61B8/00 分类号: A61B8/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明涉及超声波测定系统、超声波探测器及片材等。其中,超声波测定系统的特征在于,包括:具有超声波传感器部的超声波探测器和可将从上述超声波传感器部发射的超声波传递到被检体的片材,上述超声波探测器具有上述超声波传感器部可在朝向上述片材的片材面的位置滑动移动地与上述片材的片材侧卡合部卡合的探测器侧卡合部。
搜索关键词: 超声波 测定 系统 探测器
【主权项】:
一种超声波测定系统,其特征在于,包括:超声波探测器,具有超声波传感器部;以及片材,能够将从所述超声波传感器部发射的超音波传递到被检体,所述超声波探测器具有所述超声波传感器部能够在朝向所述片材的片材面的位置滑动移动地与所述片材的片材侧卡合部卡合的探测器侧卡合部。
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