[发明专利]基于空间映射的大规模相控天线阵列宽角扫描优化方法在审

专利信息
申请号: 201410102741.0 申请日: 2014-03-19
公开(公告)号: CN104933213A 公开(公告)日: 2015-09-23
发明(设计)人: 陈如山;丁大志;樊振宏;徐娟;鲍远顶 申请(专利权)人: 南京理工大学
主分类号: G06F17/50 分类号: G06F17/50
代理公司: 南京理工大学专利中心 32203 代理人: 朱显国
地址: 210094 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于空间映射的大规模相控天线阵列宽角扫描优化方法。步骤如下:建立阵列天线模型;在不考虑互耦的情况下,阵列的方向图为阵元方向图与阵因子的乘积,以此建立阵列天线空间映射的粗模型,优化粗模型并确定粗模型的最优设计参量;细模型采用全波分析矩量法,通过参数提取使得粗模型的响应逼近细模型的响应,建立粗模型参量与细模型参量的映射关系;利用粗模型的最优设计参量和所建立映射关系的逆映射得到细模型的预测参量,如果细模型的预测参量不满足设计要求,对映射关系进行迭代更新,直到细模型的预测参量满足设计要求。该方法对设计的参数整体优化,在保证精确性的前提下节省了计算时间。
搜索关键词: 基于 空间 映射 大规模 天线 阵列 扫描 优化 方法
【主权项】:
一种基于空间映射的大规模相控天线阵列宽角扫描优化方法,其特征在于,步骤如下:第1步,建立阵列天线模型,在不考虑互耦的情况下确定阵列天线的总辐射场;第2步,由第1步所得阵列天线的总辐射场,根据方向图乘积法推导出阵列天线的辐射方向图公式,建立阵列天线空间映射粗模型,优化粗模型并确定粗模型的最优设计参量;第3步,细模型采用全波分析矩量法,通过参量提取使得粗模型的响应逼近细模型的响应,建立粗模型参量与细模型参量的映射关系;第4步,利用第2步中粗模型的最优设计参量和第3步中所建立映射关系的逆映射得到细模型的预测参量,对细模型的预测参量进行仿真验证,判断所得响应是否满足设计要求,如果不满足,对所建立的粗模型参量与细模型参量的映射关系进行迭代更新,同时不断获取细模型新的预测参量并进行仿真验证,直到所得响应满足设计要求。
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