[发明专利]基于金属包覆磁流体波导的微小磁场传感器及测量系统在审

专利信息
申请号: 201410106288.0 申请日: 2014-03-20
公开(公告)号: CN103885003A 公开(公告)日: 2014-06-25
发明(设计)人: 殷澄;汤一彬;陈秉岩;单鸣雷;高远;韩庆邦;朱昌平 申请(专利权)人: 河海大学常州校区
主分类号: G01R33/032 分类号: G01R33/032
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 董建林
地址: 213022 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于金属包覆磁流体波导的微小磁场传感器及其测量系统,该传感器包括金属包覆磁流体波导结构和平台,金属包覆磁流体波导结构包括金属耦合层、上层光学玻璃片、金属衬底层和下层光学玻璃片,金属耦合层沉积在上层光学玻璃片上,金属衬底层沉积在下层光学玻璃片上,上层光学玻璃片和金属衬底层之间设置有样品室,样品室内注有纳米磁流体;上层光学玻璃片、充满纳米磁流体的样品室形成导波层。该测量系统包括基于金属包覆磁流体波导的微小磁场传感器、激发光源系统、光信号探测与处理系统。本发明的微小磁场传感器及其测量系统响应时间加快、传感的手段多样、实现方便,可广泛用于微结构的研究中。
搜索关键词: 基于 金属 包覆磁 流体 波导 微小 磁场 传感器 测量 系统
【主权项】:
一种基于金属包覆磁流体波导的微小磁场传感器,包括金属包覆磁流体波导结构和平台,所述金属包覆磁流体波导结构固定在所述平台上;所述金属包覆磁流体波导结构包括金属耦合层、上层光学玻璃片、金属衬底层和下层光学玻璃片,所述金属耦合层沉积在所述上层光学玻璃片上,所述金属衬底层沉积在所述下层光学玻璃片上,所述上层光学玻璃片和所述金属衬底层之间设置有样品室,所述样品室内注有纳米磁流体;上层光学玻璃片、充满纳米磁流体的样品室形成导波层。
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