[发明专利]一种用Campbell法测量超导体电流密度的装置无效
| 申请号： | 201410107778.2 | 申请日： | 2014-03-21 |
| 公开（公告）号： | CN103926454A | 公开（公告）日： | 2014-07-16 |
| 发明（设计）人： | 刘志勇;唐亚楠;楚庄;黎文峰;张娜 | 申请（专利权）人： | 河南师范大学 |
| 主分类号： | G01R19/08 | 分类号： | G01R19/08 |
| 代理公司： | 新乡市平原专利有限责任公司 41107 | 代理人： | 路宽 |
| 地址： | 453007 河*** | 国省代码： | 河南;41 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用Campbell法测量超导体电流密度的装置。本发明的技术方案要点为：一种用Campbell法测量超导体电流密度的装置，主要由探测设备和输出信号处理保存设备构成，探测设备包括检测线圈和参比线圈，输出信号处理保存设备包括调谐电路、电压表和计算机，该计算机装有辅助测量和控制系统，用于对数据进行记录和分析，所述的检测线圈和参比线圈中形成的电信号经过外接的调谐电路将调制的信号发送到电压表和计算机。本发明用电压来表征线圈内的磁通变化从而来确定超导体的磁场穿透深度，对磁场穿透深度与磁感应强度关系求其斜率得到超导临界电流密度，双线圈检测样品作用的有效信号，准确可靠，把Campbell磁测量电流理论用可实施的测量工具来实现。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 campbell 测量 超导体 电流密度 装置 | ||
【主权项】：
一种用Campbell法测量超导体电流密度的装置，其特征在于主要由探测设备和输出信号处理保存设备构成，所述的探测设备包括两个相同的线圈，两个相同的线圈分别为检测线圈和参比线圈，所述的输出信号处理保存设备包括调谐电路、电压表和计算机，该计算机装有辅助测量和控制系统，用于对数据进行记录和分析，所述的检测线圈和参比线圈中形成的电信号经过外接的调谐电路将调制的信号发送到电压表和计算机。
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