[发明专利]针对短路测试集成电路封装在审
申请号: | 201410108073.2 | 申请日: | 2014-03-21 |
公开(公告)号: | CN104062534A | 公开(公告)日: | 2014-09-24 |
发明(设计)人: | H·S·谢;C·P·黄 | 申请(专利权)人: | 德克萨斯仪器股份有限公司 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 赵蓉民 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 可以针对短路和连续性以并行方式测试具有引脚阵列的电子封装。引脚阵列被分配为四组或者更多引脚组,使得每个组中的每个引脚都不与其自身引脚组中的引脚相邻。针对连续性测试一个引脚组,同时在其它引脚组中的全部引脚上设置基准电压电平。将单独的电流源耦合到每个引脚,并且测量结果电压。当第一组中一个引脚上的结果电压近似等于基准电压时,可以检测第一组中的一个引脚和其它组的一个组中的引脚之间的短路。按组重复进行测试直至全部组都被测试。 | ||
搜索关键词: | 针对 短路 测试 集成电路 封装 | ||
【主权项】:
1.一种用于针对短路测试具有引脚阵列的电子封装的方法,该方法包括:使用互联矩阵将多个电流源中的单独的一个、多个电压感测装置中的一个和基准电压源选择性地耦合到所述引脚阵列的每个引脚;将所述引脚阵列的至少一部分分配为四组或者更多引脚组,使得每个组中的每个引脚与其自身引脚组中的引脚不相邻;针对到封装内的对应的电气部件的连续性并行地测试第一引脚组中的全部引脚,同时在其它引脚组的全部引脚上设置基准电压电平,其中,通过经由控制系统将所述多个电流源中的所述单独的一个连接到所述第一引脚组中的每个引脚并且测量所述引脚上的结果电压来针对连续性测试所述第一引脚组中的每个引脚;以及当所述第一引脚组中的一个引脚上的结果电压近似等于所述基准电压源的基准电压电平时,确定所述第一引脚组中的一个引脚和其它引脚组中的一组中的引脚之间是否存在短路。
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