[发明专利]一种测量在线低辐射节能镀膜玻璃辐射率的方法

摘要

本发明涉及一种测量在线低辐射节能镀膜玻璃辐射率的方法，能够实现在线低辐射玻璃辐射率的在线、实时测量。该方法是在获得低辐射镀膜的可见-近红外波段椭圆偏振光谱的基础之上，引入四层膜层结构以及Drude色散方程来回归实测椭偏光谱，最终获得薄膜材料的物理参数，从而通过一个半经验公式计算薄膜的辐射率。本发明仅采用椭偏光学测试手段便可测量薄膜辐射率，对样品无损伤、测量耗时少、测试方法简便、对被测样品表面无特殊要求，十分适合于在线低辐射节能镀膜玻璃的性能在线检测及监控。

主权项

1.一种测量在线低辐射节能镀膜玻璃辐射率的方法，该低辐射镀膜玻璃为SnO₂:F/SiC_xO_y镀膜玻璃，0＜x＜1，1＜y＜4，测量步骤如下：1）利用光度式椭圆偏振光谱仪测量SnO₂:F/SiC_xO_y镀膜玻璃在可见-近红外波段范围内的椭偏参数，然后针对该镀膜玻璃建立四层膜结构模型：自上而下依次为表面粗糙层/SnO₂:F低辐射层/SiC_xO_y缓冲层/SiC_xO_y扩散层/玻璃基底，结构模型待回归参数为各膜层的厚度，自上而下各膜层厚度依次记为d1,d2,d3,d4，接着对各膜层的光学参数建立色散模型；表面粗糙层的光学参数采用Bruggeman有效介质近似模型描述，如式（1）所示，式中ε₁,ε₂分别为介质1和介质2的介电常数，f为介质1占总物质的体积百分比，针对上述结构模型，介质1对应于SnO₂:F低辐射层，介质2对应于空气，ε_h为这两介质混合后的等效总介电常数，色散模型待回归参数为f；0=fϵ1-ϵhϵ1+2ϵh+(1-f)ϵ2-ϵhϵ2+2ϵh;ϵh=ϵr+iϵi---(1)]]>SnO₂:F低辐射层的光学参数用Drude色散方程描述，如式（2）所示，其中ε_r和ε_i分别为材料介电常数的实部与虚部，ω_P为材料等离子震荡频率，ω_τ为材料电子碰撞频率，均为与材料电学性能相关的参数，方程待回归参数为ω_P和ω_τ；ϵr(ω)=ϵ∞-ωP2ω2+ωτ2;ϵi(ω)=ωP2ωτω(ω2+ωτ2)---(2)]]>SiC_xO_y缓冲层及SiC_xO_y扩散层属于透明绝缘层，其光学参数采用Cauchy色散方程描述，如式（3），A,B,C为无量纲常数，也均为带回归的参数：n＝A_c+B_c/λ²+C_c/λ⁴;k＝0     （3）2）基于步骤1）中建立的参数模型，对原始椭偏参数进行迭代回归处理，获得各参数的最优取值，其中，将Drude模型中ω_P及ω_τ的最优取值代入至式（4），得到低辐射镀膜玻璃的辐射率E，公式如式（4）所示E=0.8ωτ/ωP1/2---(4).]]>