[发明专利]一种微动往复密封动态特性实验台

摘要

一种微动往复密封动态特性实验台，包括变频电机，变频电机输出轴通过深沟球轴承和曲柄连杆连接，曲柄连杆通过力传感器和滑块连接，滑块套在轴上，滑块和轴之间设有第二被测密封，轴固定在支撑轴上，支撑轴安装在支架上，滑块通过第一被测密封和端盖连接，端盖固定连接在支架上，位移传感器固定在底板上，声发射传感器紧贴着第一被测密封、第二被测密封的密封圈运动表面，本发明模拟副密封轴向的实际运动，获得副密封在某种工况下完整动态特性参数；改变过盈量下测试副密封的动态特性参数，能够研究在不同的介质压力、不同的运动频率下动态特性参数变化规律；同时能够实现多种密封轴径的副密封动态特性的测量。

主权项

一种微动往复密封动态特性实验台，包括变频电机（7），其特征在于：变频电机（7）通过凸缘定位安装在电机支架（4）上，电机支架（4）通过定位件（3）安装在底板（2）上，变频电机（7）、电机支架（4）、定位件（3）、底板（2）构成了驱动机构；外花键（6）安装在变频电机（7）输出轴上，外花键（6）与内花键（5）啮合，内花键（5）与深沟球轴承（19）连接，深沟球轴承（19）和曲柄连杆（8）的一端连接组成了转动副扩大的曲柄结构；曲柄连杆（8）的另一端通过力传感器（9）和滑块（12）的一端连接，滑块（12）套在轴（13）上，滑块（12）和轴（13）之间设有第二被测密封（18），轴（13）固定在支撑轴（16）上，支撑轴（16）安装在支架（15）上，滑块（12）另一端通过第一被测密封（17）和端盖（14）连接，端盖（14）固定连接在支架（15）上，滑块（12）、轴（13）、端盖（14）、支架（15）、支撑轴（16）构成滑块机构；力传感器（9）用于测量副密封轴向摩擦力，位移传感器（10）固定在底板（2）上间接测量副密封的轴向位移，声发射传感器（11）紧贴着第一被测密封（17）、第二被测密封（18）的密封圈运动表面，力传感器（9）、位移传感器（10）、声发射传感器（11）三者构成测试机构。