[发明专利]一种针对电子单机热待机环境下的故障预测方法及预测设备无效

专利信息
申请号: 201410115371.4 申请日: 2014-03-25
公开(公告)号: CN103854075A 公开(公告)日: 2014-06-11
发明(设计)人: 张庆振;黄亚;程林;王金朔;李腾;陶飞 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G06Q10/04 分类号: G06Q10/04
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 孟卜娟;李新华
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种针对电子单机热待机环境下的故障预测方法及预测设备,方法包括:采用专家系统和灰度预测模型的组合算法来实现对电子设备的故障预测,设计相应的知识表,采用规则快速匹配法来实现推理过程。设备包括:控制器模块、电源模块、触摸显示屏、LED报警模块、测试台机箱、数据采集缓存模块、灰度预测模块、专家系统模块。本发明可高效、实时和准确地预测出电子单机的潜在故障,为设备电子单机的可靠工作提供保障。
搜索关键词: 一种 针对 电子 单机 待机 环境 故障 预测 方法 设备
【主权项】:
一种针对电子单机热待机环境下的故障预测方法,其特征是所述方法包括:步骤1:针对电子单机设备的特点,分析并提取其故障模式;步骤2:构建热待机环境下的典型故障模式库,总结和提取现有故障模式,对典型故障模式进行分析,构建热待机环境下的典型故障模式库;步骤3:通过数据采集模块实时采集系统运行状态的信号,经过数据处理后将采集得到的数据转换为故障预测模块需要的数据类型;步骤4:由建立的典型故障模式库提取相应的故障征兆信息,建立判据库,通过判据推理算法实现状态监测与故障预测;步骤5:故障预测模块采用两种预测算法,采用基于灰度模型的故障预测算法来预测测点的状态变化,然后将测点的预测值作为测点信息,采用基于判据的故障预测算法完成推理,实现故障预测,最后通过数据通信接口将故障预测结果显示在触摸显示屏上。
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