[发明专利]一种多功能可编程信号发生参数测试系统有效

专利信息
申请号: 201410117459.X 申请日: 2014-03-27
公开(公告)号: CN103941119A 公开(公告)日: 2014-07-23
发明(设计)人: 陈志辉;周向前;江安全 申请(专利权)人: 北京汇德信科技有限公司
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00
代理公司: 广州市一新专利商标事务所有限公司 44220 代理人: 王德祥
地址: 100083 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种多功能可编程信号发生参数测试系统,在同一个片上系统基片上或同一块系统级封装的电路基片上设置有中央处理器、存储器、时钟发生器及可编程控制信号发生源系统、数据采集系统、数字信号处理器和功能电路实时选控模块。可编程控制信号发生源系统,生成设定的波形电压激励信号,功能电路实时选控模块控制其内的信号发生器模块输出激励外接被测物体的测试信号;数据采集系统采集外接被测物体的应激反应模拟电信号并转换为应激反应数字信号;数字信号处理器实时快速处理数据采集系统产生的应激反应数字信号。本发明增强了测试系统在高频高速测试条件的可靠性,提高抗电磁干扰效果,实现多功能高度协同测试测量,降低成本及占地空间。
搜索关键词: 一种 多功能 可编程 信号 发生 参数 测试 系统
【主权项】:
一种多功能可编程信号发生参数测试系统,包括中央处理器、存储器和时钟发生器,其特征在于:在同一个片上系统基片上或同一块系统级封装的电路基片上以平铺或层叠方式设置有: 所述中央处理器、所述存储器、所述时钟发生器及可编程控制信号发生源系统、数据采集系统、数字信号处理器和功能电路实时选控模块;存储器内存储有用户嵌置的用于生成设定的波形电压激励信号的程序控制指令及数据信息;中央处理器按照存储器内嵌置的程序控制指令实时控制测试系统的数据处理及时序操作;时钟发生器,实时向系统提供控制时钟;可编程控制信号发生源系统,按照存储器内嵌置的程序控制指令生成设定的波形电压激励信号,功能电路实时选控模块按照中央处理器的选控指令控制其内的信号发生器模块输出激励外接被测物体的测试信号;数据采集系统,实时采集功能电路实时选控模块内的模块式组合多功能参数测试模块采集外接被测物体的应激反应模拟电信号并转换为应激反应数字信号;数字信号处理器,按照存储器内嵌置的算法程序实时快速处理数据采集系统产生的应激反应数字信号;功能电路实时选控模块,按照存储器内嵌置的程序控制指令实时选控模块式组合多功能参数测试模块。
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