[发明专利]粒子测定装置有效
| 申请号： | 201410121220.X | 申请日： | 2014-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN104075979B | 公开（公告）日： | 2018-12-11 |
| 发明（设计）人： | 山田和宏;山本毅 | 申请（专利权）人： | 希森美康株式会社 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14 |
| 代理公司： | 北京市安伦律师事务所 11339 | 代理人： | 杨永波;刘良勇 |
| 地址： | 日本兵库县神户市*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明提供一种粒子测定装置，其特征在于具有：流动室，用于供试样流动；第一光源，射出具有第一波长的光；第二光源，射出具有不同于所述第一波长的第二波长的光；照射光学系统，向所述流动室照射所述第一光源和所述第二光源射出的光；第一受光部件，接受向通过所述流动室的测定粒子照射来自所述第一光源的光所获得的散射光；第二受光部件，接受向通过所述流动室的测定粒子照射来自所述第二光源的光所获得的散射光。 | ||
| 搜索关键词： | 粒子 测定 装置 | ||
【主权项】：
1.一种粒子测定装置，包括：流动室，用于供试样流动；第一光源，用于射出具有第一波长的光；第二光源，用于射出具有不同于所述第一波长的第二波长的光；照射光学系统，用于向所述流动室照射所述第一光源和所述第二光源射出的光；第一受光部件，用于接受向通过所述流动室的测定粒子照射来自所述第一光源的光所获得的散射光；以及第二受光部件，用于接受向通过所述流动室的测定粒子照射来自所述第二光源的光所获得的散射光；其中，所述照射光学系统具有让所述第一光源射出的光透过、并反射所述第二光源射出的光的分色镜；所安装的所述第二光源和所述分色镜能够向相互不同的转动方向转动；如果所述第二光源转动，则来自所述第二光源的光的照射位置在第一方向上移动；如果所述分色镜转动，则来自所述第二光源的光的照射位置在不同于第一方向的第二方向上移动。
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