[发明专利]一种阵列基板的制造方法有效

专利信息
申请号: 201410121807.0 申请日: 2014-03-28
公开(公告)号: CN103887245B 公开(公告)日: 2017-03-08
发明(设计)人: 徐向阳 申请(专利权)人: 深圳市华星光电技术有限公司
主分类号: H01L21/84 分类号: H01L21/84;H01L21/027
代理公司: 深圳汇智容达专利商标事务所(普通合伙)44238 代理人: 潘中毅,熊贤卿
地址: 518132 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明实施例公开了一种阵列基板的制造方法,用于制造低分辨率的OLED面板的非晶硅阵列基板,该方法包括如下步骤在玻璃基板上采用第一道光罩工艺,形成栅极金属层和像素电极图案;采用第二道光罩工艺,形成栅极绝缘层、半导体层图案,所述第一道光罩工艺和第二光罩工艺均为半调式光罩工艺;采用第三道光罩工艺,形成源/漏极金属层和沟道;采用第四道光罩工艺,形成钝化层。实施本发明实施例,简化了制造低分辨率OLED显示面板的a‑Si阵列基板的工艺流程,可以减少掩膜板的使用量,降低了生产成本。
搜索关键词: 一种 阵列 制造 方法
【主权项】:
一种阵列基板的制造方法,用于制造低分辨率的OLED面板的非晶硅阵列基板,其特征在于,包括如下步骤:在玻璃基板上采用第一道光罩工艺,形成栅极金属层和像素电极图案,所述第一道光罩工艺为半调式光罩工艺;采用第二道光罩工艺,形成栅极绝缘层、半导体层图案,所述第二道光罩工艺为半调式光罩工艺;采用第三道光罩工艺,形成源/漏极金属层和沟道;采用第四道光罩工艺,形成钝化层;其中,所述采用第三道光罩工艺,形成源/漏极金属层和沟道的步骤包括:在所述形成有形成栅极绝缘层、半导体层图案的玻璃基板上,采用磁控溅射或热蒸发方法,沉积厚度为1000 Å ~6000Å的源漏金属薄膜,并涂覆光刻胶;采用第三道光罩工艺进行曝光显影,对源漏金属层薄膜进行湿刻,对沟道进行干刻,并剥离相应的光刻胶,形成源极金属层、漏极金属层和沟道。
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