[发明专利]一种阵列基板的制造方法有效
申请号: | 201410121807.0 | 申请日: | 2014-03-28 |
公开(公告)号: | CN103887245B | 公开(公告)日: | 2017-03-08 |
发明(设计)人: | 徐向阳 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | H01L21/84 | 分类号: | H01L21/84;H01L21/027 |
代理公司: | 深圳汇智容达专利商标事务所(普通合伙)44238 | 代理人: | 潘中毅,熊贤卿 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明实施例公开了一种阵列基板的制造方法,用于制造低分辨率的OLED面板的非晶硅阵列基板,该方法包括如下步骤在玻璃基板上采用第一道光罩工艺,形成栅极金属层和像素电极图案;采用第二道光罩工艺,形成栅极绝缘层、半导体层图案,所述第一道光罩工艺和第二光罩工艺均为半调式光罩工艺;采用第三道光罩工艺,形成源/漏极金属层和沟道;采用第四道光罩工艺,形成钝化层。实施本发明实施例,简化了制造低分辨率OLED显示面板的a‑Si阵列基板的工艺流程,可以减少掩膜板的使用量,降低了生产成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 阵列 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种阵列基板的制造方法,用于制造低分辨率的OLED面板的非晶硅阵列基板,其特征在于,包括如下步骤:在玻璃基板上采用第一道光罩工艺,形成栅极金属层和像素电极图案,所述第一道光罩工艺为半调式光罩工艺;采用第二道光罩工艺,形成栅极绝缘层、半导体层图案,所述第二道光罩工艺为半调式光罩工艺;采用第三道光罩工艺,形成源/漏极金属层和沟道;采用第四道光罩工艺,形成钝化层;其中,所述采用第三道光罩工艺,形成源/漏极金属层和沟道的步骤包括:在所述形成有形成栅极绝缘层、半导体层图案的玻璃基板上,采用磁控溅射或热蒸发方法,沉积厚度为1000 Å ~6000Å的源漏金属薄膜,并涂覆光刻胶;采用第三道光罩工艺进行曝光显影,对源漏金属层薄膜进行湿刻,对沟道进行干刻,并剥离相应的光刻胶,形成源极金属层、漏极金属层和沟道。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造