[发明专利]一种变口径管磨粒流超精密抛光测控系统有效
| 申请号： | 201410122312.X | 申请日： | 2014-03-28 |
| 公开（公告）号： | CN103846798A | 公开（公告）日： | 2014-06-11 |
| 发明（设计）人： | 李俊烨;朱立峰;刘建河;张心明;许颖;赵伟宏 | 申请（专利权）人： | 长春理工大学 |
| 主分类号： | B24B49/00 | 分类号： | B24B49/00;B24B51/00;B24B1/00 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 130022 吉林省*** | 国省代码： | 吉林;22 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种变口径管磨粒流超精密抛光测控系统，应用于液压站上，包括直线位移测控单元、流量测控单元、压力测控单元、温度测控单元，直线位移测控单元由第一限位开关、第二限位开关、钢制指针、光栅尺及数据采集系统组成，钢制指针安装于第一限位开关和第二限位开关之间，所述光栅尺位于所述钢制指针的侧方并与数据采集系统连接，用于检测位移测量信号，并将位移测量信号发送给数据采集系统。本发明公开的测控系统，可以对变口径管等密闭空间的零件光整加工，使磨料与变口径管通道实现碰撞接触，实现磨粒流超精密抛光。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 口径 管磨粒流超 精密 抛光 测控 系统 | ||
【主权项】：
一种变口径管磨粒流超精密抛光测控系统，应用于液压站上，其特征在于，包括直线位移测控单元、流量测控单元、压力测控单元、温度测控单元，直线位移测控单元由第一限位开关、第二限位开关、钢制指针、光栅尺及数据采集系统组成，钢制指针安装于第一限位开关和第二限位开关之间，所述光栅尺位于所述钢制指针的侧方并与数据采集系统连接，用于检测位移测量信号，并将位移测量信号发送给数据采集系统。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长春理工大学，未经长春理工大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410122312.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：测定沥青中各组分含量的方法
- 下一篇：用于气体检测的仪器
