[发明专利]一种企业EDA设计平台运行环境基础性能测试方法有效
| 申请号： | 201410124575.4 | 申请日： | 2014-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN103902421A | 公开（公告）日： | 2014-07-02 |
| 发明（设计）人： | 徐君怡;江石根 | 申请（专利权）人： | 苏州华芯微电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/28 | 分类号： | G06F11/28 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215011 *** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种企业EDA设计平台运行环境基础性能测试方法，它包括如下步骤：1)平台运行环境的基础读操作和写操作两向带宽测试；2)设计操作吞吐量测试；3)集成电路设计典型应用模拟测试。本发明用于从微观的角度帮助用户分析和了解文件系统某些特点方面的性能，且测试结果简洁明了。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 企业 eda 设计 平台 运行 环境 基础 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种企业EDA设计平台运行环境基础性能测试方法，其特征在于，它包括如下步骤：1)平台运行环境的基础读操作和写操作两向带宽测试，即通过模拟设计过程中可能出现的多个数据接口操作的虚拟场景来进行测试；2)设计操作吞吐量测试，即通过交叉循环操作方式对EDA设计平台运行环境的数据文件操作吞吐量进行测试；3)集成电路设计典型应用模拟测试，即通过构建多线程可扩展的负载模型来测试在企业实际集成电路设计工作情况下此平台运行环境的有效应用性能。
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