[发明专利]一种基于射频和甚高频的双频磁控溅射薄膜的制备方法有效

专利信息
申请号: 201410125283.2 申请日: 2014-03-31
公开(公告)号: CN103866258A 公开(公告)日: 2014-06-18
发明(设计)人: 叶超;王响英;张苏 申请(专利权)人: 苏州大学
主分类号: C23C14/35 分类号: C23C14/35
代理公司: 苏州创元专利商标事务所有限公司 32103 代理人: 陶海锋
地址: 215123 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种基于射频和甚高频的双频磁控溅射薄膜的制备方法,利用双靶磁控溅射装置制备,包括以下步骤:(1)安装制备双组元薄膜所需的靶材,并将清洁后的基片置入真空室中;溅射靶中心至基片台中心的距离为130mm;(2)将真空室真空抽至5×10-4Pa,然后将氩气充入真空室中,氩气的流量为30sccm,保持真空室的压力为5Pa;(3)在其中的一个靶上施加60MHz甚高频电源,调节甚高频功率为150W,在另外一个靶上添加2MHz射频电源,调节射频功率为50~250W;经过溅射在基片上制备双组元薄膜。利用射频与甚高频之间的频率解耦合性能,实现双溅射靶的离子能量分别独立控制,避免了溅射各个靶的等离子体性能(能量、密度)的接近,有利于各组元溅射的独立调控。
搜索关键词: 一种 基于 射频 甚高频 双频 磁控溅射 薄膜 制备 方法
【主权项】:
一种基于射频和甚高频的双频磁控溅射薄膜的制备方法,利用双靶磁控溅射装置制备,其特征在于,包括以下步骤:(1) 在两个溅射靶上分别安装制备薄膜所需的靶材,并将清洁后的基片置于真空室内基片台上;两个溅射靶分别以相对于真空室纵向对称轴为45°、135°的位置安装在真空室顶部;溅射靶中心至基片台中心的距离为130mm;所述靶材为非铁磁靶;(2)将真空室真空抽至5×10‑4Pa,然后将氩气充入真空室中,氩气的流量为30sccm,保持真空室的压力为5Pa;(3)在其中的一个溅射靶上施加60MHz甚高频电源,调节甚高频功率为150W,同时在另外一个溅射靶上添加2MHz射频电源,调节射频功率为50~250W;经过溅射在基片上制备薄膜。
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