[发明专利]利用光谱仪进行光谱式磁光克尔效应测试的装置及方法

摘要

利用光谱仪进行光谱式磁光克尔效应测试的装置及方法，装置包括白光光源、准直镜、起偏器、两个光阑、电磁铁、样品台、检偏器、聚光镜、光纤耦合器、光谱仪、PC机，其特征在于白光光源通过光纤与准直镜相连，经准直镜聚焦后输出白光；准直镜后面沿光路顺序排列为起偏器、两个光阑、检偏器、聚光镜、光纤耦合器和光谱仪；在测量椭偏率时需将四分之一波片置于检偏器之后聚光镜之前，而测量磁光偏转角时无需放置；两个光阑之间放置样品台，样品台位于电磁铁中间；光纤耦合器通过光纤与光谱仪相连；光谱仪的输出端连接到PC机；通过编程由PC机控制光谱仪并输出结果。该系统光路简单，成本低廉，数据精度高，可以给出磁光偏转角的光谱曲线。

主权项

一种利用光谱仪进行光谱式磁光克尔效应测试的装置，包括白光光源、准直镜、起偏器、两个光阑、电磁铁、样品台、检偏器、四分之一波片、聚光镜、光纤耦合器、光谱仪、PC机，其特征在于白光光源通过光纤与准直镜相连，经准直镜聚焦后输出白光；准直镜后面沿光路顺序排列为起偏器、两个光阑、检偏器、聚光镜、光纤耦合器和光谱仪；测量磁光偏转角时无需放置四分之一波片，而在测量椭偏率时需将四分之一波片置于检偏器之后聚光镜之前；两个光阑之间放置样品台，样品台位于电磁铁中间；光纤耦合器通过光纤与光谱仪相连；光谱仪的输出端连接到PC机，以观察记录并计算测量结果。