[发明专利]一种OLED显示器件的测试方法及测试系统在审
| 申请号： | 201410127150.9 | 申请日： | 2014-03-31 |
| 公开（公告）号： | CN103927954A | 公开（公告）日： | 2014-07-16 |
| 发明（设计）人： | 李延钊;王刚;方金钢;赵会;查奇君 | 申请（专利权）人： | 京东方科技集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G09G3/00 | 分类号： | G09G3/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;安利霞 |
| 地址： | 100015 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种OLED显示器件的测试方法及测试系统，该方法包括：对待测试的OLED显示器件施加测试信号；获取施加所述测试信号的所述OLED显示器件的测试区域的实测分布图像；将所述实测分布图像与对应的校准分布图像进行对比，得到一比对结果；根据所述比对结果确定所述测试区域是否存在背板异常点，当所述比对结果表示所述测试区域存在背板异常点时，确定所述背板异常点在所述OLED显示器件上的位置。本发明能够提高OLED显示器件的测试效率和测试直观度，降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 oled 显示 器件 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种有机发光二极体OLED显示器件的测试方法，其特征在于，包括：对待测试的OLED显示器件施加测试信号；获取施加所述测试信号的所述OLED显示器件的测试区域的实测分布图像；将所述实测分布图像与对应的校准分布图像进行对比，得到一比对结果；根据所述比对结果确定所述测试区域是否存在背板异常点；当所述比对结果表示所述测试区域存在背板异常点时，确定所述背板异常点在所述OLED显示器件上的位置。
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