[发明专利]用于确定共振频率偏差的方法和磁共振设备有效
申请号: | 201410132222.9 | 申请日: | 2014-04-02 |
公开(公告)号: | CN104101853B | 公开(公告)日: | 2017-09-22 |
发明(设计)人: | T.巴赫施密特;M.尼特卡 | 申请(专利权)人: | 西门子公司 |
主分类号: | G01R33/565 | 分类号: | G01R33/565;A61B5/055 |
代理公司: | 北京市柳沈律师事务所11105 | 代理人: | 谢强 |
地址: | 德国*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明涉及一种用于在借助磁共振设备(5)激励检查对象(O)内部的体积段的层时确定共振频率偏差的方法。在此该方法包括以下步骤沿着一个方向(R1)接通层选择梯度(44)。入射HF激励脉冲(41),用于激励该层。沿着该方向(R1)接通读出梯度(46)。在读出梯度(46)被接通期间读出MR数据。在根据MR数据重建的MR图像内部定位图像点,其中这些图像点具有大于预定的阈值的信号强度,以便确定这些图像点中的如下的图像点,该图像点按照该方向(R1)在该自旋和该层之间具有最大距离(52;53)。根据层选择梯度(44)的幅值、读出梯度(46)的幅值和最大距离(52;53)确定共振频率偏差。层选择梯度(44)和读出梯度(46)具有相反的极性。 | ||
搜索关键词: | 用于 确定 共振频率 偏差 方法 磁共振 设备 | ||
【主权项】:
一种用于在借助磁共振设备(5)激励检查对象(O)内部的体积段的层时确定共振频率偏差的方法,其中,该方法包括以下步骤:·沿着一个方向(R1)接通层选择梯度(44),·入射高频激励脉冲(41),用于激励所述层,·入射高频重聚焦脉冲(42),用于将散相的自旋重聚焦,·沿着所述方向(R1)接通读出梯度(46),·在读出梯度(46)被接通期间读出磁共振数据,·在根据磁共振数据重建的磁共振图像内部定位图像点,其中,这些图像点具有大于预定的阈值的信号强度,以便确定这些图像点中的如下的图像点:该图像点按照所述方向(R1)在该图像点和所述层之间具有最大距离(52;53),并且·根据层选择梯度(44)的幅值、读出梯度(46)的幅值和所述最大距离(52;53)确定共振频率偏差,其中,层选择梯度(44)和读出梯度(46)具有相反的极性。
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