[发明专利]分析装置、分析程序以及分析系统有效
| 申请号： | 201410132589.0 | 申请日： | 2014-04-02 |
| 公开（公告）号： | CN104101294B | 公开（公告）日： | 2018-06-05 |
| 发明（设计）人： | 大岛志织;堂胁优;松居惠理子 | 申请（专利权）人： | 索尼公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G02B21/36 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 | 代理人： | 余刚;吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
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| 摘要： | 本发明涉及分析装置、分析程序以及分析系统，该分析装置包括：二维坐标检测单元和三维坐标确定单元。所述二维坐标检测单元被配置为对于通过在多个焦深捕获包括分析目标物的分析样本而获得的捕获图像组检测作为在每个捕获图像中的分析目标物的平面坐标候选的二维坐标候选。所述三维坐标确定单元被配置为基于捕获图像之间的平面坐标候选的位置关系来确定作为分析目标物的三维坐标候选的三维坐标候选。 | ||
| 搜索关键词： | 三维坐标 捕获图像 分析目标 分析装置 二维坐标检测 分析程序 分析系统 平面坐标 确定单元 二维坐标 焦深 配置 捕获 样本 检测 分析 | ||
【主权项】：
一种分析装置，包括：二维坐标检测单元，被配置为对于通过在多个焦深捕获包括分析目标物的分析样本而获得的捕获图像组检测作为在每个捕获图像中的所述分析目标物的平面坐标候选的二维坐标候选；以及三维坐标确定单元，被配置为基于所述捕获图像之间的所述平面坐标候选的位置关系来确定作为所述分析目标物的三维坐标的候选的三维坐标候选，所述二维坐标检测单元被配置为从所述捕获图像中提取第一特征量，基于所述第一特征量检测初始二维坐标候选，在所述初始二维坐标候选周围设置比较范围，从包括在所述比较范围中的捕获图像中提取第二特征量，并且当在所述比较范围中移动模板时，在与所述模板重叠的范围中，将所述模板的特征量与所述捕获图像的所述第二特征量进行比较，从而检测所述二维坐标候选。
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