[发明专利]用于检测和跟踪一个物体上多个部位的系统和方法有效
| 申请号： | 201410135793.8 | 申请日： | 2014-04-04 |
| 公开（公告）号： | CN103996019B | 公开（公告）日： | 2017-03-29 |
| 发明（设计）人： | 唐学燕;丁游 | 申请（专利权）人： | 香港应用科技研究院有限公司 |
| 主分类号： | G06K9/00 | 分类号： | G06K9/00;G06K9/46;G06T7/73 |
| 代理公司： | 深圳新创友知识产权代理有限公司44223 | 代理人： | 江耀纯 |
| 地址： | 中国香港新界沙田香港科*** | 国省代码： | 香港;81 |
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| 摘要： | 本发明披露了一种检测一个物体至少一个预定部位的姿势的系统和方法，包括步骤从由第一图像传感器拍摄的第一图像中，提取出第一物体形状；计算所述第一物体形状一个预定区域内的所述预定部位的一个特征尺寸值；根据所述特征尺寸值，构建一个掩膜；通过将所述掩膜应用在所述第一物体形状上，从所述第一物体形状中提取出所述预定部位的一个轮廓；在所述预定部位的所述轮廓中，找到至少一个预定特征点，从而检测出所述预定部位的所述姿势。本发明还可以包括第二图像传感器，其同时拍摄第二图像，执行以上相同步骤而找到第二特征点位置；根据所述第一特征点位置和所述第二特征点位置，确定每个特征点的三维坐标。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 跟踪 一个 物体 上多个 部位 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种检测一个物体的至少一个预定部位的姿势的方法，包括步骤：(a)从由第一图像传感器拍摄的第一图像中，提取出第一物体形状；(b)计算所述第一物体形状一个预定区域内的所述预定部位的一个特征尺寸值；(c)根据所述特征尺寸值，构建一个掩膜；(d)通过将所述掩膜应用在所述第一物体形状上，从所述第一物体形状中提取出所述预定部位的一个轮廓；(e)在所述预定部位的所述轮廓中，找到至少一个预定特征点，从而检测出所述预定部位的所述姿势；其中所述计算特征尺寸值的步骤还包括以下步骤：a)确定所述物体的一个参考部位的参考值；所述参考部位不同于所述至少一个预定部位；b)根据所述参考值，计算多个阈值；其中所述计算特征尺寸值的步骤还包括以下步骤：a)根据第一组所述多个阈值，确定多个分割边界；b)根据所述分割边界，从所述第一物体形状中提取出所述预定区域；c)根据第二组所述多个阈值，识别出所述预定区域内的所述至少一个预定部位；d)测量所述预定区域内的所述至少一个预定部位的尺寸值；e)根据所述预定区域内的所述预定部位的所述尺寸值，计算所述特征尺寸值。
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