[发明专利]点云的大地测量参照有效
申请号: | 201410136452.2 | 申请日: | 2014-04-04 |
公开(公告)号: | CN104101334B | 公开(公告)日: | 2018-01-05 |
发明(设计)人: | H-M·佐格;N·科特祖尔 | 申请(专利权)人: | 莱卡地球系统公开股份有限公司 |
主分类号: | G01C15/00 | 分类号: | G01C15/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人: | 吕俊刚,刘久亮 |
地址: | 瑞士海*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 点云的大地测量参照。提供了一种大地测量方法,该大地测量方法包括以下步骤获得针对物体(20)的表面信息;并且针对至少一个参照点(25至27),以大地测量方式进行精确的单个点测量,其中,通过所述至少一个参照点(25至27)提供针对外部坐标系的位置参照,将测量辐射(3、33)对准所述至少一个参照点(25至27),并且在内部坐标系中确定至少到所述参照点(25至27)的方向。 | ||
搜索关键词: | 大地测量 参照 | ||
【主权项】:
一种大地测量装置(1、11),所述大地测量装置包括:基部,所述基部限定枢轴;结构,所述结构布置在所述基部上,并且能够按照由电动机驱动的方式绕所述枢轴相对于所述基部枢转,其中,所述结构限定与所述枢轴大致正交的倾斜轴;瞄准单元(2),其中,所述瞄准单元(2)被设置成,使得所述瞄准单元(2)能够按照由电动机驱动的方式绕所述倾斜轴相对于所述结构枢转,并且所述瞄准单元(2)具有发射单元,所述发射单元具有用于生成并发射测量辐射(3、33)的射束源;距离测量功能,所述距离测量功能用于测量到点的距离;角测量功能,所述角测量功能用于测量所述测量辐射(3、33)的对准;控制和处理单元,所述控制和处理单元用于数据处理并且用于控制所述测量装置;以及单个点测量功能,其中,所述单个点测量功能能够通过所述控制和处理单元以这样的方式来执行:能够通过以高精度的方式与所述测量辐射(3、33)对准,以精确的大地测量的方式来测量至少一个参照点(25至28),其中,由所述至少一个参照点(25至28)来提供针对外部坐标系的位置参照;以及当将所述测量辐射(3、33)对准到所述至少一个参照点(25至28)上时,能够在所述测量装置(1、11)的内部坐标系中确定至少到所述参照点(25至28)的方向,其特征在于包括与参照点无关的扫描功能,其中,所述扫描功能能够通过所述控制和处理单元以这样的方式自动地执行:能够通过电动机驱动连续地改变所述测量辐射(3、33)在位于指定的扫描区域内的扫描点上的对准,以预定的扫描点分辨率来自动地测量所述扫描点;并且能够以所述测量装置(1、11)的所述内部坐标系生成具有所述扫描点的点云(20a至20c),以及参照功能,其中,当所述参照功能由所述控制和处理单元执行时,至少基于以下各项与所述外部坐标系相关地参照所述内部坐标系:由所述参照点(25至28)提供的针对所述外部坐标系的位置参照,以及能够由所述单个点测量功能确定的、在所述内部坐标系中的到所述参照点(25至28)的方向,使得以所述外部坐标系确定所述点云(20a至20c)的至少一个取向,大气状态信息和/或限定几何测量信息检测功能,其中,所述大气状态信息和/或限定几何测量信息检测功能能够在确定针对相应的扫描点的距离时和/或在确定到所述至少一个参照点(25至28)的距离时,处理所述大气状态信息和/或所述几何测量信息,并且存在距离修正,以基于所述距离修正来确定所述相应距离,和/或基于所述大气状态信息和/或所述几何测量信息,针对在扫描范围内确定的所述扫描点在所述外部坐标系中的位置来调节在所述扫描范围内确定的所述扫描点。
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