[发明专利]用于荧光测量的具有可互换光学盒的扫描系统有效
申请号: | 201410138075.6 | 申请日: | 2014-04-08 |
公开(公告)号: | CN104142317B | 公开(公告)日: | 2019-06-07 |
发明(设计)人: | Y.C.蔡;T.H.李;I.L.钟;W.-Y.李 | 申请(专利权)人: | 安捷伦科技有限公司 |
主分类号: | G01N21/64 | 分类号: | G01N21/64 |
代理公司: | 北京坤瑞律师事务所 11494 | 代理人: | 封新琴 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 本公开涉及一种用于对多孔孔板执行荧光测量的荧光测量系统,以及自包含的多通道光学盒。荧光测量系统包括主机装置和自包含的、多通道光学盒。所述主机装置包括孔板容座,以及具有沿所述孔板的一个轴伸长的光学盒容座的台。所述台和所述孔板容座相对于彼此在所述孔板的另一轴的方向上是可移动的。所述光学盒与所述光学盒容座接合,并且包括光学组件的线性阵列,所述光学组件中的每一个包括激发光源,以及生成强度信号的发射光检测器。所述光学盒还包括存储每一个光学组件的校准信息的存储器。所述主机装置还包括使用从所述光学组件的光学盒接收到的校准信息来校正来自所述光学盒的每一个光学组件的强度信号的处理器。 | ||
搜索关键词: | 用于 荧光 测量 具有 互换 光学 扫描 系统 | ||
【主权项】:
1.一种用于对多孔孔板执行荧光测量的荧光测量系统,所述多孔孔板具有以矩形阵列布置的孔,所述矩形阵列具有第一轴和与所述第一轴垂直的第二轴,所述系统包括:主机装置,包括:安置所述孔板的孔板容座;以及包括光学盒容座的台,所述光学盒容座在与由所述孔板容座容纳的孔板的第一轴平行的第一方向上伸长,所述光学盒容座在其表面上包括电连接器,其中所述台和所述孔板容座中的至少一个相对于所述台和所述孔板容座中的另一个在与所述孔板和所述孔板的第二轴平行的第二方向上是可移动的,用于指定一组孔;自包含的、多通道光学盒,其被配置为与所述光学盒容座接合并在指定组的孔上执行同时荧光测量,所述光学盒包括:光学组件沿所述第一方向的线性阵列,所述光学组件中的每一个包括生成用于向所述孔板的相应孔输出的激发光的相应激发光源,以及响应于从所述孔板的相应孔接收到的发射光生成发射光强度信号的相应发射光检测器,存储器,其存储所述光学组件中的每一个的相应校准信息,以及电连接器,其电耦接到所述存储器和所述光学组件中的每一个,并且被配置为连接到所述光学盒容座的电连接器;其中所述主机装置还包括使用从用于所述光学组件的光学盒接收到的相应校准信息来校正从所述光学盒的每一个光学组件接收到的发射光强度信号的处理器,其中“自包含”的含义在于当光学盒安装在主机装置的光学盒容器中的任何一个时,光学盒的电光性能独立于主机装置,自包含的光学盒可独立于与光学盒一起使用的任何主机装置而校准。
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