[发明专利]一种基于预扫描的轨迹校正调焦调平装置和方法有效
申请号: | 201410140997.0 | 申请日: | 2014-04-09 |
公开(公告)号: | CN104977821B | 公开(公告)日: | 2017-06-27 |
发明(设计)人: | 齐景超;陈飞彪 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备有限公司 |
主分类号: | G03F9/00 | 分类号: | G03F9/00;G03F7/20 |
代理公司: | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙)31237 | 代理人: | 屈蘅 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 一种基于预扫描的轨迹校正调焦调平装置,其特征在于,包括一传感器阵列和一水平运动台,在预扫描过程中,所述传感器阵列可对多个采样点进行采样,所述装置可根据传感器的采样结果对被测表面进行拟合,根据采样结果和拟合得到的拟合面之间的差值,所述水平运动台可运动,控制所述传感器阵列整体在x方向上进行位置微调,或传感器阵列中超出阈值的测量值所对应的传感器,在x方向上进行位置微调。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 扫描 轨迹 校正 调焦 平装 方法 | ||
【主权项】:
一种基于预扫描的轨迹校正调焦调平装置,其特征在于,包括一传感器阵列和一水平运动台,在预扫描过程中,水平运动台载着被测物沿y向运动,所述传感器阵列可对多个采样点进行采样,所述装置可根据传感器的采样结果对被测表面进行拟合,根据采样结果和拟合得到的拟合面之间的差值,当该差值超过设定的高度阈值H0时,所述水平运动台可运动,将所述被测物沿x向做微调整,即控制所述传感器阵列整体在x方向上相对于所述被测物进行位置微调;所述被测物上的划线槽的延伸方向与y方向是一致的。
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