[发明专利]欠采样速率下的高频余弦信号的频率测量方法及其装置有效
| 申请号： | 201410141095.9 | 申请日： | 2014-04-09 |
| 公开（公告）号： | CN103941087A | 公开（公告）日： | 2014-07-23 |
| 发明（设计）人： | 黄翔东;丁道贤;孟天伟 | 申请（专利权）人： | 天津大学 |
| 主分类号： | G01R23/02 | 分类号： | G01R23/02 |
| 代理公司： | 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 | 代理人： | 温国林 |
| 地址： | 300072*** | 国省代码： | 天津;12 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种欠采样速率下的高频余弦信号的频率测量方法及其装置，涉及数字信号处理领域，本发明结合过零点类型和apFFT相位谱分布特征，从2L个峰值幅度谱位置中挑选出L个谱位置索引值；根据余数筛选结果，用全相位比值内插法对各路apFFT谱分别进行谱校正，得到每路的频率估计；利用各路谱校正得到的频率估计值，作为余数，再按照闭合解析形式的中国余数定理对这些余数处理，通过频率估计值重构出原始高频信号的频率。本发明实现了多路低速率欠采样下的高频余弦信号的频率测量，大大提高了对高频信号频率测量的范围；采用新型频谱校正方法提高了高频余弦信号的频率测量精度，保证了新型低速率欠采样下的高频余弦信号的抗噪性能。 | ||
| 搜索关键词： | 采样 速率 高频 余弦 信号 频率 测量方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
一种欠采样速率下的高频余弦信号的频率测量方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：（1）对高频模拟余弦信号进行过零点检测，取任一过零点作为高频模拟余弦信号中心采样位置；（2）以过零点为中心，分别以频率fs1～fsL对高频模拟余弦信号进行L路低速率采样，每路均采集2M‑1个样点，并存储；（3）对低速率采样得到的L路信号，分别进行加汉宁双窗全相位快速傅里叶变换；（4）结合过零点类型和apFFT相位谱分布特征，从2L个峰值幅度谱位置中挑选出L个谱位置索引值；（5）根据余数筛选结果，用全相位比值内插法对各路apFFT谱分别进行谱校正，得到每路的频率估计![]()
（6）利用各路谱校正得到的频率估计值，作为余数，再按照闭合解析形式的中国余数定理对这些余数处理，通过频率估计值重构出原始高频信号的频率f0。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于天津大学，未经天津大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201410141095.9/，转载请声明来源钻瓜专利网。
