[发明专利]一种生成pattern的方法及一种RIP有效

专利信息
申请号: 201410141631.5 申请日: 2014-04-09
公开(公告)号: CN104978229B 公开(公告)日: 2018-07-20
发明(设计)人: 马良 申请(专利权)人: 北大方正集团有限公司;北京北大方正电子有限公司
主分类号: G06F9/46 分类号: G06F9/46
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 李迪
地址: 100871 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种生成pattern的方法及一种RIP,该方法包括:S1:根据pattern资源计算出pattern cell的平铺位置和pattern cell的平铺次数;S2:判断是否同时满足pattern为非透明pattern且每个pattern cell的大小没有超过预设值,如果是,则执行S3,否则执行S4;S3:将每个pattern cell直接展开,根据所述pattern cell的平铺位置和所述pattern cell的平铺次数进行平铺;S4:创建所有pattern cell共用的光栅化页面,对每个pattern cell进行透明处理,根据所述pattern cell的平铺位置和所述pattern cell的平铺次数进行平铺。通过本发明提供的一种生成pattern的方法及一种RIP,能够降低内存的使用量。
搜索关键词: 一种 生成 pattern 方法 rip
【主权项】:
1.一种生成pattern的方法,其特征在于,该方法包括:S1:根据pattern资源计算出pattern cell的平铺位置和pattern cell的平铺次数,具体包括:S11:获取pattern资源;S12:从所述pattern资源中获取并保存pattern cell的转换矩阵CTM;S13:根据所述CTM计算出pattern cell的平铺位置;S14:根据所述pattern cell的平铺位置和所述pattern资源中pattern cell的平铺间隔计算出pattern cell的平铺次数;S2:判断是否同时满足pattern为非透明pattern且每个pattern cell的大小没有超过预设值,如果是,则执行S3,否则执行S4;S3:将每个pattern cell直接展开,根据所述pattern cell的平铺位置和所述pattern cell的平铺次数进行平铺;S4:创建所有pattern cell共用的光栅化页面,对每个pattern cell进行透明处理,根据所述pattern cell的平铺位置和所述pattern cell的平铺次数进行平铺,包括:S41:获取当前输出页面的宽高,根据该输出页面的宽高对pattern cell的边界进行剪裁;S42:根据剪裁后的pattern cell的边界和该pattern cell对应的CTM,计算pattern cell相对于子页面的偏移量,将该偏移量设置到CTM中;S43:创建透明组链表,设置pattern cell对应项的透明参数并将该pattern cell对应项加入透明组链表中;S44:根据透明组链表设置pattern cell共用的光栅化页面的透明参数;S45:根据CTM中pattern cell相对于子页面的原点的偏移量和所述光栅化页面中的透明参数生成pattern cell点阵;S46:根据所述CTM和所述pattern cell点阵对pattern cell进行平铺。
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