[发明专利]一种光器件光谱响应测量方法、测量系统有效
| 申请号： | 201410145131.9 | 申请日： | 2014-04-11 |
| 公开（公告）号： | CN103954356A | 公开（公告）日： | 2014-07-30 |
| 发明（设计）人： | 潘时龙;薛敏;唐震宙;赵永久;张方正;朱丹 | 申请（专利权）人： | 南京航空航天大学 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人： | 杨楠 |
| 地址： | 210016 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种光器件光谱响应测量方法，属于光学测量技术领域。本发明方法将单波长的光探测信号分为两路，一路以固定的频移量进行移频操作，另一路通过待测光器件；然后对两路光进行拍频，得到携带待测光器件在光探测信号频率处的光谱响应信息的射频信号；利用工作频率与所述频移量相同的射频幅相提取装置提取所述射频信号的幅度相位信息，得到待测光器件在光探测信号频率处的幅频响应与相频响应；改变所述光探测信号的波长并重复上述过程，得到待测光器件的光谱矢量响应信息。本发明还公开了一种光器件光谱响应测量系统。相比现有技术，本发明能够在实现光器件幅频响应和相频响应的高精度测量的同时，大幅降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 器件 光谱 响应 测量方法 测量 系统 | ||
【主权项】：
一种光器件光谱响应测量方法，其特征在于，将单波长的光探测信号分为两路，一路以固定的频移量进行移频操作，另一路通过待测光器件；然后对两路光进行拍频，得到携带待测光器件在光探测信号频率处的光谱响应信息的射频信号；利用工作频率与所述频移量相同的射频幅相提取装置提取所述射频信号的幅度相位信息，得到待测光器件在光探测信号频率处的幅频响应与相频响应；改变所述光探测信号的波长并重复上述过程，得到待测光器件的光谱矢量响应信息。
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