[发明专利]一种X射线显微成像本底缺陷图像修正采样系统

摘要

本发明涉及一种X射线显微成像本底缺陷图像修正采样系统，包括射线源、样品台、探测器，所述射线源发射出的X射线穿透所述待测样品后投射至所述高分辨率探测器上，完成一幅投影图像的采集；通过一定角度范围内的系列采样，并通过与扫描模式相对应的成像算法即可获取三维立体图像；该本底缺陷图像修正方法可以分别通过三种不同的抖动系统来实现图像抖动采集。本X射线显微成像本底缺陷图像修正采样系统可根据实际需要实现成像器件本底缺陷的标定，以及成像器件本底缺陷图像与样品内部真实图像之间的区分，并消除本底缺陷引起的图像重建伪像，获得真实的、高质量的样品内部图像信息。

主权项

一种X射线显微成像本底缺陷图像修正采样系统，包括用于发射X射线的射线源、用于承载待测样品的样品台及用于成像的探测器，样品台安装有样品抖动系统，其特征在于：所述探测器和所述射线源在纵向上位于所述样品台的两侧，所述射线源发射出的X射线穿透所述待测样品后投射至所述探测器上，完成一幅投影图像的采集，通过在一定角度范围内的系列采样，并利用相应的重建算法即可获取三维立体图像。