[发明专利]一种基于纹理复杂度的HEVC编码尺寸快速判定方法有效
申请号: | 201410147363.8 | 申请日: | 2014-04-14 |
公开(公告)号: | CN103957421B | 公开(公告)日: | 2017-05-31 |
发明(设计)人: | 胡锦雯;滕国伟;尚峰;安平;晏轲;杨骁 | 申请(专利权)人: | 上海大学;上海东方传媒集团有限公司 |
主分类号: | H04N19/587 | 分类号: | H04N19/587;H04N19/122;H04N19/124 |
代理公司: | 上海上大专利事务所(普通合伙)31205 | 代理人: | 何文欣 |
地址: | 200444*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于纹理复杂度的HEVC编码尺寸快速判定方法。本方法针对最大编码单元LCU进行161亚采样,将后续进行纹理复杂度计算所耗费的时间降为原有的1/16,然后引入两级判定机制,首先利用ASAD模型初步判定LCU亚采样后得到的块的纹理复杂度,通过设定两个阈值以防止误判,对于纹理简单的LCU采用大尺寸编码单元,对于纹理复杂的LCU则采用小尺寸编码单元;然后基于上级判定结果再采用MAD模型,决定是否添加其他尺寸的编码单元,提高了纹理判定的精度。本发明能够极大降低算法复杂度,同时能够精确地判定纹理,提高算法准确度。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 纹理 复杂度 hevc 编码 尺寸 快速 判定 方法 | ||
【主权项】:
一种基于纹理复杂度的HEVC编码尺寸快速判定方法,其特征在于该方法的操作步骤如下:(1)亚采样:将最大编码单元LCU(64×64)亚采样为16×16块;(2)计算纹理复杂度:设计准确的模型初步判定亚采样后得到的16×16块的纹理复杂度,具体步骤为:计算经过亚采样后得到的16×16块的纹理复杂度,采用的模型是表征纹理平坦度的先进绝对误差和ASAD:ASAD=Σi=015Σj=015|Li,j-L‾i,j|]]>其中,Li,j是(i,j)位置上的亮度像素值,是以(i,j)为中心的3×3邻域内的亮度像素的均值;由于空间相关性,与当前亮度像素距离越近的像素相关性越强,于是采用加权均值,即:L‾i,j=Σx=-11Σy=-11wx,yLi+x,j+y,wx,y=116121242121,]]>其中,wx,y为加权因子且Li+x,j+y(x,y=‑1,0,1)表示(i,j)为中心的3×3邻域内的亮度像素;(3)根据纹理特征采用不同的优化措施:对于纹理简单的LCU采用大编码单元64×64和32×32,对于纹理复杂的LCU则采用小尺寸编码单元16×16和8×8;(4)提高纹理判定精度:根据步骤(3)得到的结果,每一种纹理特征会采用两种尺寸的编码单元进行编码,比较这两种编码单元编码后的亮度块的绝对差值和均值MAD;(5)决定编码单元的尺寸:根据步骤(4)中得到的结果再采用相应的附加判断,即判定是否需要再加入其它尺寸的编码单元,以提高算法准确度。
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