[发明专利]一种裂缝性碳酸盐岩地层电阻率校正的方法无效

专利信息
申请号: 201410148572.4 申请日: 2014-04-15
公开(公告)号: CN103995297A 公开(公告)日: 2014-08-20
发明(设计)人: 赵军;李宗杰;杨阳;周明顺;柳建华;古莉 申请(专利权)人: 西南石油大学
主分类号: G01V3/38 分类号: G01V3/38;G01N27/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 610500 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明涉及一种裂缝性碳酸盐岩地层电阻率校正的方法,利用岩心、成像以及常规测井资料对碳酸盐岩裂缝发育层段电阻率进行校正的新方法,本方法是:在实验条件下,做“岩心在不同裂缝宽度下的电阻率实验”,即先测量破缝前基质电阻率R0,然后再在不同裂缝宽度条件下测量相应的裂缝电阻率值Rf;根据实验结果拟合出裂缝电阻率与基质电阻率的log(R0)-log(Rf)值与裂缝宽度w的关系式,再进行裂缝性碳酸盐岩地层电阻率的校正,读取裂缝处电阻率Rf和围岩的电阻率R0,将其对数之差log(R0)-log(Rf)与利用双侧向电阻率计算得出的裂缝孔隙度PORF做交会,并拟合得到关系式,用以校正裂缝电阻率。本发明应用统计的方法建立地区电阻率校正模型,不仅快速、直观、简单而且参数选取少。
搜索关键词: 一种 裂缝 碳酸盐 地层 电阻率 校正 方法
【主权项】:
一种对裂缝性碳酸盐岩地层电阻率进行校正的新方法,其特征在于,方法是:①首先,在实验条件下,做“岩心在不同裂缝宽度下的电阻率实验”,即先测量破缝前基质电阻率R0,然后再在不同裂缝宽度条件下测量相应的裂缝电阻率值Rf;②根据实验结果拟合出裂缝电阻率与基质电阻率的log(R0)‑log(Rf)值与裂缝宽度w的关系式,从而从实验角度验证了地层电阻率确实受裂缝宽度影响;③再进行裂缝性碳酸盐岩地层电阻率的校正,即先通过成像和常规测井资料选取电阻率仅受裂缝影响的层段,读取裂缝处电阻率Rf和围岩的电阻率R0,将其对数之差log(R0)‑log(Rf)与利用双侧向电阻率计算得出的裂缝孔隙度PORF做交会,并拟合得到关系式,用以校正裂缝电阻率。
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