[发明专利]一种通过上位机对扩散硅传感器进行压力标定方法无效

专利信息
申请号: 201410151805.6 申请日: 2014-04-12
公开(公告)号: CN103968998A 公开(公告)日: 2014-08-06
发明(设计)人: 王雪冰;赵刚;周磊;石天立;曲婷 申请(专利权)人: 沈阳仪表科学研究院有限公司
主分类号: G01L25/00 分类号: G01L25/00
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 110000 辽*** 国省代码: 辽宁;21
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种通过上位机对扩散硅传感器进行压力标定方法,它基于一种对扩散硅传感器的输出进行数字化采集,对采集的数据进行温度和压力补偿的方法。其中包括:对扩散硅传感器进行压力标定的装置,包括微处理器,通信接口电路,传感器数字化接口电路和数据存储电路。本发明解决了目前在对扩散硅传感器标定过程中普遍采用的对电路中的零点和满度的电位器调节来达到校准扩散硅传感器的目的。摆脱由于电路中电位器自身漂移造成的扩散硅传感器精度漂移、无法批量标定扩散硅传感器、对扩散硅传感器的线性精度无法调节的缺点。具有稳定性好、精度高、温度漂移小、标定智能化等特点。
搜索关键词: 一种 通过 上位 扩散 传感器 进行 压力 标定 方法
【主权项】:
一种通过上位机对扩散硅传感器进行压力标定方法,其特征在于,包括如下步骤: 步骤1,在扩散硅传感器的量程范围内,选择n个压力标定点,在每个标定点下分别测试扩散硅传感器输出的A/D值,所述n为正整数; 步骤2,按照扩散硅传感器的使用温度范围,选择所述扩散硅传感器m个补偿温度标定点,所述m为正整数; 步骤3,根据所述扩散硅传感器压力标定点和补偿温度标定点,生成所述扩散硅传感器压力标定点和补偿温度标定点的标准输入值,通过A/D转换之后,确定压力标定点输出值UPk和补偿温度标定点输出值UTk; 步骤4,经过压力标定和补偿温度后所得到的扩散硅传感器输出值,通过上位机计算出压力校准参数,然后利用数据通信接口总线发送压力标定和补偿温度的标准参数到扩散硅传感器的硬件存储器里。 
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于沈阳仪表科学研究院有限公司,未经沈阳仪表科学研究院有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410151805.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top