[发明专利]一种红外焦平面读出电路的检测电路

摘要

本发明实施例公开了一种红外焦平面读出电路的检测电路，包括测试电路，用于接收至少一个测试输入信号；检测电路，用于检测敏感像元的信号，以及用于接收至少一个测试输入信号并生成测试信号；积分电路，用于对测试信号进行积分，获得积分信号；采样保持电路，用于接收积分信号并将其采样并输出。本发明的实施例中，检测电路可以在红外焦平面阵列制作敏感像元之前对读出整个电路进行检测，筛选出不合格的电路，节省红外焦平面阵列的制作成本。在制作敏感像元后正常工作时，又可以保证不影响读出电路的正常工作，即不会带来性能上的衰减。

主权项

一种红外焦平面读出电路的检测电路，其特征在于，包括：测试电路（20），所述测试电路（20）用于接收至少一个测试输入信号；检测电路（10），所述检测电路（10）连接到所述测试电路（20），用于检测敏感像元的信号，以及用于接收所述至少一个测试输入信号并生成测试信号；积分电路（30），所述积分电路（30）连接到所述检测电路（10）并用于对所述测试信号进行积分，获得积分信号；采样保持电路（40），所述采样保持电路（40）连接到所述积分电路（30），用于接收所述积分信号并将所述积分信号采样并作为测试输出信号输出；所述测试电路包括第一晶体管（PM1）和第三晶体管（NM1），所述第一晶体管（PM1）的源极连接到模拟电源（AVDD），所述第一晶体管（PM1）的漏极连接到所述检测电路（10），所述第一晶体管（PM1）的栅极连接到第一测试信号输入端（Vp_test）；所述第三晶体管（NM1）的源极接地，所述第三晶体管（NM1）的漏极连接到所述检测电路（10），所述第三晶体管（NM1）的栅极连接到第二测试信号输入端（Vn_test）；所述检测电路（10）包括第二晶体管（PM2）、第四晶体管（NM2）和第五晶体管（NM3），其中：所述第二晶体管（PM2）的栅极连接到第一偏置电压（Vpbias），所述第二晶体管（PM2）的源极连接到所述第一晶体管（PM1）的漏极，第二晶体管（PM2）的漏极连接到所述第四晶体管（NM2）的漏极并且连接到所述积分电路（30）；所述第四晶体管（NM2）的栅极连接到第二偏置电压（Vnbias），所述第四晶体管（NM2）的源极连接到所述第五晶体管（NM3）的漏极；所述第五晶体管（NM3）的栅极连接到行选信号输入端（Row_sel），所述第五晶体管（NM3）的源极连接到所述第三晶体管（NM1）的漏极。