[发明专利]一种基于压缩感知原理的导体电导率一维分布的测量方法和装置

摘要

本发明涉及一种基于压缩感知原理的导体电导率一维分布的测量方法和装置，该方法包括：步骤一将含有数十至数百个可编程开关电极的可编程开关电极带与待测导体的表面紧密贴合；通过计算机生成伯努力随机采样矩阵，从该矩阵中依次取出行向量；步骤二测得采样矩阵中不同行向量对应的电阻值，得出电阻采样向量；步骤三根据不同检测导体选择对应的稀疏变换，构成超完备字典；步骤四利用恢复算法对待测导体电阻一维分布进行重建，利用电阻率计算公式求得导体电阻率一维分布，再取倒数得到导体电导率一维分布结果。本发明具有测量过程简便、测量精度高和测量快速等优点，适用于对现有电导率测量装置的升级改造。

主权项

一种基于压缩感知原理的导体电导率一维分布测量的方法，其特征在于包括如下具体步骤：步骤一，将含有数十至数百个可编程开关电极的可编程开关电极带与待测导体的表面紧密贴合；通过计算机生成伯努力随机采样矩阵，从该矩阵中依次取出行向量，再由计算机输出行向量信号至可编程开关电极带的控制端，控制数十至数百个可编程开关电极的通断状态，0对应开关闭合，1对应开关断开；步骤二，通过电阻抗测试仪的测量电极接入待测导体两端，测得采样矩阵中不同行向量对应的电阻值，得出电阻采样向量；步骤三，根据不同检测导体选择对应的稀疏变换，构成超完备字典；步骤四，利用恢复算法对待测导体电阻一维分布进行重建，利用电阻率计算公式：ρ＝RS/L，其中：ρ为电阻率、R为电阻、L为待测导体的长度、S为横截面积，求得导体电阻率一维分布，再取倒数得到导体电导率一维分布结果。