[发明专利]发光面亮度均匀性分析方法有效

专利信息
申请号: 201410164419.0 申请日: 2014-04-22
公开(公告)号: CN103983429B 公开(公告)日: 2016-09-21
发明(设计)人: 钟磊;周详;郑成龙;李福生;花醒飞;熊衍建;于勇;季永康 申请(专利权)人: 常州市武进区半导体照明应用技术研究院
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京聿宏知识产权代理有限公司 11372 代理人: 吴大建;刘华联
地址: 213164 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明提出了一种发光面亮度均匀性分析方法,其包括:亮度数据测量步骤,测量待测产品的发光面的亮度数据;形状判断步骤,判断发光面的形状;亮度均匀性分析步骤,根据发光面的形状,对发光面的亮度数据进行亮度均匀性分析。本发明通过测量整个发光面的亮度数据,并以此作为亮度均匀性分析的基础,能够降低在采用目前亮度均匀性分析方法,对照明类产品进行亮度均匀分析时产生的偏差;此外,本发明提出根据发光面的形状的不同来对亮度均匀性进行分析,能够提高亮度均匀性分析结果的准确度。
搜索关键词: 光面 亮度 均匀 分析 方法
【主权项】:
一种发光面亮度均匀性分析方法,其特征在于,包括:亮度数据测量步骤,测量待测产品的发光面的亮度数据;形状判断步骤,判断所述发光面的形状;亮度均匀性分析步骤,根据所述发光面的形状,对所述发光面的亮度数据进行亮度均匀性分析;在所述形状判断步骤中,若判断所述发光面的形状为圆形,则所述亮度均匀性分析步骤包括:第一发光面划分步骤,将所述发光面划分成中心区和环形区,并将所述环形区划分成多个扇面区;第一参数计算步骤,计算出所述发光面的亮度旋转对称性参数、第一亮度中心平衡性参数和第一亮度均匀性参数中至少一个参数;其中第一亮度均匀性分析步骤,将计算出的所述参数与其阈值进行比较,分析出所述发光面的亮度均匀性;其中,所述第一参数计算步骤,包括:亮度旋转对称性参数计算步骤:根据公式S=min(Li)/max(Li)计算出所述亮度旋转对称性参数S,其中,1≤i≤n‑1且n表示所述发光面的中心区和扇面区的总数,L1至Ln‑1表示所述发光面的对应扇面区的亮度,Ln表示所述发光面的中心区的亮度,Li表示所述发光面的第i个扇面区的亮度,min()表示取最小值,max()表示取最大值;第一亮度中心平衡性参数计算步骤:求取所述发光面中所有扇面区的亮度的平均值average(Li);以及根据公式B=Ln/average(Li)计算出所述第一亮度中心平衡性参数B,其中,Ln表示所述发光面的中心区的亮度;第一亮度均匀性参数计算步骤:根据公式U=Nbright/N计算出所述第一亮度均匀性参数,其中,Nbright表示所述发光面中亮度大于或等于平均亮度80%的像素点的个数,N表示所述发光面中所有像素点的总数,且所述平均亮度表示所述发光面中所有像素点的亮度平均值。
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