[发明专利]陶瓷球体检查装置有效
申请号: | 201410165457.8 | 申请日: | 2010-11-11 |
公开(公告)号: | CN103954635A | 公开(公告)日: | 2014-07-30 |
发明(设计)人: | 大西宏司;池田博;泷本大树;植村浩;山田贤司;小野秀树;松山博进 | 申请(专利权)人: | 日化陶股份有限公司;椿中岛股份有限公司 |
主分类号: | G01N21/95 | 分类号: | G01N21/95;G01N21/01 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 李洋;舒艳君 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供将能够减少由反复载荷的疲劳引起的表面的剥离、并在表面加工时提高尺寸精度、并且耐磨损性以及耐久性优异的陶瓷烧结体以及陶瓷球体,不破坏地检测表面层的内部的缺陷以及雪片的有无的陶瓷球体检查装置。陶瓷球体检查装置(100)将陶瓷球体(S)支承为在规定的位置能够自转,并利用受光机构(120)检测照光机构(110)的照射光来评价表面层的内部状态,其中受光机构(120)不对从照光机构(110)照射的照射光在陶瓷球体的表面反射的反射光进行检测。 | ||
搜索关键词: | 陶瓷 球体 检查 装置 | ||
【主权项】:
一种陶瓷球体检查装置,其具有:将陶瓷球体支承为在规定的位置能够自转的旋转支承机构;朝向陶瓷球体的表面照射照射光的照光机构;将来自陶瓷球体的反射光作为检查光来进行检测的受光机构;以及接受来自该受光机构的检测输出来评价陶瓷球体的表面层的内部状态的处理机构,其特征在于,所述受光机构构成为,不对从所述照光机构照射的照射光在陶瓷球体的表面反射的反射光进行检测。
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