[发明专利]用于X射线散射分析的X射线分析系统有效
| 申请号： | 201410167870.8 | 申请日： | 2014-03-14 |
| 公开（公告）号： | CN104132954B | 公开（公告）日： | 2019-06-04 |
| 发明（设计）人： | J·S·皮德森 | 申请（专利权）人： | 布鲁克AXS有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/201 | 分类号： | G01N23/201;G01N23/207 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 陈华成 |
| 地址： | 德国卡*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及用于X射线散射分析的X射线分析系统。该X射线分析系统包括：X射线源，用于产生沿透射轴(3)传播的X射线的射束；至少一个具有孔隙的混合狭缝(5b)，该孔隙限定射束的横截面的形状；样品，由混合狭缝(5b)成形的射束照射到该样品上；X射线检测器，用于检测来自于该样品的X射线，其中混合狭缝(5b)包括至少三个混合狭缝元件(7)，每个混合狭缝元件(7)包括以锥角α≠0与基底(9)结合的单晶基板(8)，混合狭缝元件(7)的单晶基板(8)限制该孔隙，该X射线分析系统的特征在于，混合狭缝元件(7)沿透射轴(3)以一定偏移量交错布置。本发明的X射线分析系统表现出改进的分辨率和信噪比。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 射线 散射 分析 系统 | ||
【主权项】：
1.一种用于X射线散射分析的X射线分析系统(1)，包括：X射线源(2)，用于产生沿透射轴(3)传播的X射线的射束(XB)；至少一个具有孔隙的混合狭缝(5b)，所述孔隙限定所述射束(XB)的横截面的形状；样品(6)，由所述混合狭缝(5b)成形的射束(XB)被引导到该样品(6)上；以及X射线检测器(10)，用于检测来自于所述样品(6)的X射线，其中所述混合狭缝(5b)包括n个混合狭缝元件(7)，每个混合狭缝元件(7)包括以锥角α≠0与基底(9)结合的单晶基板(8)，所述混合狭缝元件(7)的所述单晶基板(8)限制所述孔隙，其中所述混合狭缝元件(7)被布置为形成多边形，所述多边形在沿所述透射轴(3)的投影中观察具有n边，其中n＞4，所述X射线分析系统(1)的特征在于，所述混合狭缝元件(7)沿透射轴(3)以一定偏移量交错布置，以使孔隙的尺寸不取决于单晶基板的尺寸，以及所述混合狭缝元件(7)能够沿所述透射轴(3)的方向和/或垂直于所述透射轴(3)移动，其中混合狭缝元件(7)能够根据其沿所述透射轴的位置来移动不同的距离。
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