[发明专利]测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法无效

专利信息
申请号: 201410171527.0 申请日: 2014-04-25
公开(公告)号: CN103900984A 公开(公告)日: 2014-07-02
发明(设计)人: 鲁钢;刘洋;宋杲;颜湘莲;季严松;苏镇西;杨韧;赵也;姚强 申请(专利权)人: 国家电网公司;黑龙江省电力科学研究院;中国电力科学研究院;国网安徽省电力公司电力科学研究院;国网陕西省电力公司电力科学研究院;国网重庆市电力公司电力科学研究院
主分类号: G01N21/31 分类号: G01N21/31
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 张利明
地址: 100031 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法,属于光电技术检测技术领域。本发明是为了解决在SF6分解气体测量时,测得的SF6分解气体中SOF2气体浓度的精度低的问题。本发明所述的测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法,首先获得大气的光谱和SF6分解气体的光谱,然后依据比尔定律最终获得待测SOF2气体浓度,该方法简化了数据处理过程,从而使SOF2气体浓度的精度提高了50%。本发明所述的测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法,适用于对SF6分解气体中的SOF2气体进行浓度测量。
搜索关键词: 测量 sf sub 分解 气体 sof 浓度 方法
【主权项】:
测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法,其特征在于,该方法是基于下述装置实现的,所述装置包括:18.5μm激光器(1)、第一聚光镜(2)、样品池(3)、第二聚光镜(4)和光谱仪(5);18.5μm激光器(1)发出的激光经过第一聚光镜(2)透射至样品池(3)中,样品池(3)将该激光输送至第二聚光镜(4)上,第二聚光镜(4)将该激光输送至光谱仪(5)的入射狭缝中;所述光谱仪(5)的入射狭缝位于第二聚光镜(4)的焦点处;所述样品池(3)用于填充待检测气体;所述测量SF6分解气体中SOF2浓度的方法包括以下步骤:步骤一:在样品池(3)中充入大气,打开18.5μm激光器1,通过光谱仪(5)获得大气的光谱I0(λ);步骤二:在样品池(3)中充入待检测的SF6分解气体,通过光谱仪(5)获得SF6分解气体的光谱I(λ);步骤三:依据比尔定律,利用步骤一获得的大气的光谱I0(λ)和步骤二获得的SF6分解气体的光谱I(λ),获得充入样品池(3)中的待测SOF2气体的浓度N。
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