[发明专利]集成无源器件扇出型晶圆级封装结构及制作方法有效
申请号: | 201410172998.3 | 申请日: | 2014-04-26 |
公开(公告)号: | CN103972218A | 公开(公告)日: | 2014-08-06 |
发明(设计)人: | 孙鹏;徐健;王宏杰;何洪文 | 申请(专利权)人: | 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
主分类号: | H01L23/64 | 分类号: | H01L23/64;H01L23/498;H01L25/00;H01L21/48 |
代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人: | 殷红梅 |
地址: | 214135 江苏省无锡市新区太湖国际科技园*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种集成无源器件扇出型晶圆级封装结构及制作方法,包括模塑料体和芯片;其特征是:在所述模塑料体中设置螺旋形金属布线层,模塑料体正面设置绝缘层,绝缘层中布置金属导线层,金属导线层连接芯片的电极和金属布线层,在金属导线层上设置焊球。所述封装结构的制作方法,采用以下步骤:(1)芯片塑封于模塑料体中;(2)模塑料体正面开设螺旋形槽体,在槽体中制作金属布线层;(3)模塑料体正面制作绝缘层,在绝缘层上开设窗口,在绝缘层表面制作金属层,并刻蚀成所需图形,得到金属导线层;(4)在金属导线层上制作绝缘层,在绝缘层上开设窗口,在窗口中制作焊球。本发明缩短芯片与被动器件之间的电学连接长度,提升了电学品质。 | ||
搜索关键词: | 集成 无源 器件 扇出型晶圆级 封装 结构 制作方法 | ||
【主权项】:
一种集成无源器件扇出型晶圆级封装结构,包括模塑料体(1)和扇出型塑封于模塑料体(1)中的芯片(2),芯片(2)的正面具有第一电极(21)和第二电极(22);其特征是:在所述模塑料体(1)中设置第一金属布线层(31)和第二金属布线层(32),第一金属布线层(31)和第二金属布线层(32)呈螺旋形分布于模塑料体(1)上;在所述模塑料体(1)的正面设置绝缘层(4),在绝缘层(4)中布置第一金属导线层(51)和第二金属导线层(52),第一金属导线层(51)连接芯片(2)的第一电极(21)和第一金属布线层(31),第二金属导线层(52)连接芯片(2)的第二电极(22)和第二金属布线层(32);在所述第一金属导线层(51)和第二金属导线层(52)上分别设置一个或多个凸点下金属层(6)和焊球(7)。
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