[发明专利]用于检验物理性质传感器的装置无效
| 申请号： | 201410175540.3 | 申请日： | 2014-04-28 |
| 公开（公告）号： | CN104344846A | 公开（公告）日： | 2015-02-11 |
| 发明（设计）人： | 姜希正;曹点洙;金基锡 | 申请（专利权）人： | 三星电机株式会社 |
| 主分类号： | G01D21/00 | 分类号： | G01D21/00 |
| 代理公司： | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人： | 肖冰滨;陈潇潇 |
| 地址： | 韩国*** | 国省代码： | 韩国;KR |
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| 摘要： | 公开了一种用于检验物理性质传感器的装置，该装置包括：测量单元，用于测量至少一个参考传感器以及所检验的传感器；以及显示单元，与所述测量单元电通信。测量单元包括：基底，该基底包括第一固定部分和第二固定部分，其中第一固定部分安装了其上安装有至少一个参考传感器的参考基底，第二固定部分固定所述所检验的传感器以与所述参考传感器相邻；以及上盖，该上盖包括通孔，该通孔将所述参考传感器和所检验的传感器暴露至周围空气，并且该通孔被形成为覆盖至少一个所述参考传感器和所检验的传感器的平板形状。根据本发明，所检验的传感器的测量的数据与在相同条件下的参考传感器的测量的数据相比较，从而确定所检验的传感器是好的产品。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检验 物理性质 传感器 装置 | ||
【主权项】：
一种用于检验物理性质传感器的装置，该装置包括：测量单元，该测量单元用于测量至少一个参考传感器以及所检验的传感器；以及显示单元，该显示单元与所述测量单元电通信，其中所述测量单元包括：基底，该基底包括第一固定部分和第二固定部分，其中该第一固定部分安装了其上安装有至少一个参考传感器的参考基底，该第二固定部分固定所述所检验的传感器以与所述参考传感器相邻；以及上盖，该上盖包括通孔，该通孔将所述参考传感器和所述所检验的传感器暴露至周围空气，并且该通孔被形成为覆盖至少一个参考传感器和所述所检验的传感器的平板形状。
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