[发明专利]一种针对超衍射结构材料近场倏逝波光场透过率传输特性函数的远场检测方法有效

专利信息
申请号: 201410175832.7 申请日: 2014-04-28
公开(公告)号: CN103969225A 公开(公告)日: 2014-08-06
发明(设计)人: 罗先刚;赵泽宇;王长涛;王彦钦;姚纳;胡承刚;蒲明薄;王炯;曾波;马晓亮 申请(专利权)人: 中国科学院光电技术研究所
主分类号: G01N21/59 分类号: G01N21/59;G01M11/02
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 孟卜娟;贾玉忠
地址: 610209 *** 国省代码: 四川;51
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摘要: 发明提供一种针对超衍射结构材料近场倏逝波光场透过率传输特性函数的远场检测方法,采用器件从上到下依次包括透明基底层、激发光栅层、超衍射结构材料层和检测光栅层。其中从透明基底背面入射的照明光通过激发光栅层激发出倏逝波级次,超衍射结构材料层可对倏逝波级次进行横向波矢的空间频率高通滤波从而形成一个具有特定横向波矢近场透过率的倏逝波光场,检测光栅层可将倏逝波级次转换为传输波级次传输至远场,最终在远场可接收到与倏逝波成份一一对应的检测光。该方法将可应用于对超衍射结构材料倏逝波光场横向波矢近场透过率传输特性函数的远场探测,实现对倏逝波光场的横向波矢近场分布及其相应波矢能量透过效率的定性分析以及定量检测。
搜索关键词: 一种 针对 衍射 结构 材料 近场 波光 透过 传输 特性 函数 检测 方法
【主权项】:
一种针对超衍射结构材料近场倏逝波光场透过率传输特性函数的远场检测方法,其特征在于:该方法包括:步骤一、构建该方法采用的器件,该器件结构特征主要包括:透明基底层;激发光栅层:通过照明光作用激发出具有不同横向波矢的倏逝波级次;超衍射结构材料层:用于对不同横向波矢的倏逝波进行选择性透过滤波,从而形成一个具有特定横向波矢近场透过率的倏逝波光场;检测光栅层:将倏逝波级次转换为传输波级次,传输至远场,最终在远场可接收到与近场倏逝波横向波矢分量一一对应的传输波检测光;步骤二、针对超衍射结构材料近场倏逝波光场透过率传输特性函数的检测步骤为:(21)预先分析近场倏逝波不同横向波矢级次与转换后的远场传输波级次的一一对应关系,计算出各个倏逝波级次转换后的远场衍射强度关系;(22)采用P偏振态的激光束均匀照明激发光栅层,其照明方向保持与光栅方向垂直;(23)改变照明入射角,扫描激发所得的近场倏逝波波矢一一对应主要的远场衍射光级次角度大小、远场测量主要级次的归一化强度,与步骤(21)中的设计计算值进行比较。
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