[发明专利]光电探测成像系统及其成像方法在审
| 申请号： | 201410182047.4 | 申请日： | 2014-04-30 |
| 公开（公告）号： | CN103969693A | 公开（公告）日： | 2014-08-06 |
| 发明（设计）人： | 陈一仁;宋航;黎大兵;蒋红;孙晓娟;李志明;缪国庆;张志伟 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01V8/10 | 分类号： | G01V8/10 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 王丹阳 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 光电探测成像系统及其成像方法，属于光电探测技术领域。解决了现有技术中AlGaN基日盲焦平面阵列探测器光谱响应度、探测率、分辨率和均匀性偏低的技术问题。本发明的成像系统包括光学系统、信号处理系统、单元探测器、DMD和DMD控制系统，光学系统将被探测对象成像到DMD上，DMD控制系统控制DMD的数字微镜逐个翻转或分区域逐个区域翻转，DMD将光信号逐个反射给单元探测器，单元探测器将光信号逐个转换成电信号，信号处理系统逐个采集电信号，并对电信号进行AD转换、存储、整合及还原。本发明的成像系统光谱响应度和探测率优于现有的AlGaN基日盲焦平面阵列，分辨率高、均匀性好、成像质量高。 | ||
| 搜索关键词： | 光电 探测 成像 系统 及其 方法 | ||
【主权项】：
光电探测成像系统，包括光学系统和信号处理系统，其特征在于，还包括单元探测器、DMD和DMD控制系统；所述光学系统将被探测对象成像到DMD上；所述DMD控制系统控制DMD的数字微镜逐个翻转或分区域逐个区域翻转；所述DMD将光信号逐个反射给单元探测器；所述单元探测器将光信号逐个转换成电信号，单元探测器为AlGaN基单元日盲探测器、硅基单元光电探测器或者GaAs基单元光电探测器；所述信号处理系统逐个采集电信号，并对电信号逐个进行AD转换后，逐个存储，并整合及还原成像。
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