[发明专利]一种JFET器件及其制造方法无效
申请号: | 201410182547.8 | 申请日: | 2014-04-30 |
公开(公告)号: | CN103956385A | 公开(公告)日: | 2014-07-30 |
发明(设计)人: | 李泽宏;赖亚明;刘建;吴玉舟 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H01L29/78 | 分类号: | H01L29/78;H01L29/10;H01L21/336;H01L21/265 |
代理公司: | 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 | 代理人: | 李顺德;王睿 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明涉及半导体技术,具体的说是涉及一种JFET器件及其制造方法。本发明的JFET器件在栅区下方的沟道区中引入了辅助层13,辅助层13靠近源端一侧,利用此辅助层13来减弱沟道调制效应,从而实现在宽电压输入范围内,输出电流的变化率小。本发明的有益效果为,在制作工艺并不复杂的基础上,器件的恒流特性较好,在宽电压输入范围内,输出电流的变化率很小,比常规的JFET器件提高了约100%,能够满足更小恒流精度的需求,特别适合小功率LED灯恒流驱动。本发明尤其适用于小功率LED灯恒流用JFET器件。 | ||
搜索关键词: | 一种 jfet 器件 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种JFET器件,其元胞结构包括P型衬底(6)和设置在P型衬底(6)上端面的P型外延层(5);所述P型外延层(5)上端面设置有介质层(9);所述P型外延层(5)上层设置有n型体沟道区(4),P型外延层5的两端分别设置有第一P型隔离区(7)和第二P型隔离区(8);所述n型体沟道区(4)上层设置有相互独立的P+栅极区(1)、N+漏极区(2)、N+源极区(3),其中P+栅极区(1)位于N+漏极区(2)和N+源极区(3)之间,所述P+栅极区(1)的上端面设置有栅极金属(11),所述N+漏极区(2)的上端面设置有漏极金属(10),所述N+源极区(3)的上端面设置有源极金属(12);其特征在于,所述n型体沟道区(4)中设置有辅助层(13),所述辅助层(13)位于P+栅极区(1)下方。
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