[发明专利]一种JFET器件及其制造方法无效

专利信息
申请号: 201410182547.8 申请日: 2014-04-30
公开(公告)号: CN103956385A 公开(公告)日: 2014-07-30
发明(设计)人: 李泽宏;赖亚明;刘建;吴玉舟 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/10;H01L21/336;H01L21/265
代理公司: 成都宏顺专利代理事务所(普通合伙) 51227 代理人: 李顺德;王睿
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及半导体技术,具体的说是涉及一种JFET器件及其制造方法。本发明的JFET器件在栅区下方的沟道区中引入了辅助层13,辅助层13靠近源端一侧,利用此辅助层13来减弱沟道调制效应,从而实现在宽电压输入范围内,输出电流的变化率小。本发明的有益效果为,在制作工艺并不复杂的基础上,器件的恒流特性较好,在宽电压输入范围内,输出电流的变化率很小,比常规的JFET器件提高了约100%,能够满足更小恒流精度的需求,特别适合小功率LED灯恒流驱动。本发明尤其适用于小功率LED灯恒流用JFET器件。
搜索关键词: 一种 jfet 器件 及其 制造 方法
【主权项】:
一种JFET器件,其元胞结构包括P型衬底(6)和设置在P型衬底(6)上端面的P型外延层(5);所述P型外延层(5)上端面设置有介质层(9);所述P型外延层(5)上层设置有n型体沟道区(4),P型外延层5的两端分别设置有第一P型隔离区(7)和第二P型隔离区(8);所述n型体沟道区(4)上层设置有相互独立的P+栅极区(1)、N+漏极区(2)、N+源极区(3),其中P+栅极区(1)位于N+漏极区(2)和N+源极区(3)之间,所述P+栅极区(1)的上端面设置有栅极金属(11),所述N+漏极区(2)的上端面设置有漏极金属(10),所述N+源极区(3)的上端面设置有源极金属(12);其特征在于,所述n型体沟道区(4)中设置有辅助层(13),所述辅助层(13)位于P+栅极区(1)下方。 
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201410182547.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top