[发明专利]监控FPGA的单粒子翻转效应并纠正重加载的方法及系统

摘要

本发明公开了一种监控FPGA的单粒子翻转效应并纠正重加载的方法，反熔丝FPGA利用SRAM型FPGA的配置字回读功能，回读其配置字，并与预存在FLASH存储芯片内的正确配置字进行比较，检查SRAM型FPGA是否发生单粒子翻转，若发生单粒子翻转则利用预存在FLASH存储芯片内的加载程序进行重新加载；本发明还公开了一种监控FPGA的单粒子翻转效应并纠正重加载的系统，包括依次连接的FLASH存储芯片、反熔丝FPGA和SRAM型FPGA。本发明利用预存在FLASH存储芯片内的加载文件，模拟PROM的时序对SRAM型FPGA进行加载，与采用一次烧写PROM相比减少了PCB的布板面积，有利于设备的小型化。

主权项

一种监控FPGA的单粒子翻转效应并纠正重加载的系统，其特征在于，包括依次连接的FLASH存储芯片、反熔丝FPGA和SRAM型FPGA；所述的反熔丝FPGA包括回读模块、读取FLASH数据模块、比对模块和重加载模块；所述的回读模块，用于回读SRAM型FPGA的配置字；所述的读取FLASH数据模块，用于读取预存在FLASH存储芯片内的数据；所述的比对模块，用于对回读的配置字与预存的数据进行比对校验，并判断SRAM型FPGA是否发生单粒子翻转；所述的重加载模块，利用预存在FLASH存储芯片内的加载文件对SRAM型FPGA进行重新加载。