[发明专利]存储器、存储阵列的检测电路及方法有效
| 申请号： | 201410184492.4 | 申请日： | 2014-05-04 |
| 公开（公告）号： | CN105097047B | 公开（公告）日： | 2017-12-29 |
| 发明（设计）人： | 陈先敏;杨家奇 | 申请（专利权）人： | 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 北京集佳知识产权代理有限公司11227 | 代理人： | 骆苏华 |
| 地址： | 201203 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种存储器、存储阵列的检测电路及方法，所述存储阵列包括呈阵列排布的待测存储单元，所述待测存储单元被编程前后的等效阻抗不相等。所述存储阵列的检测电路包括N个检测单元，N为整数且N≥3；所述检测单元包括电压比较器，所述电压比较器的第一输入端适于输入基准电压，N个电压比较器的第二输入端相连并作为测试端，所述电压比较器的输出端适于输出二进制数据。本发明技术方案提供的存储器、存储阵列的检测电路及方法，能够提高检测所述存储阵列的速度，节省检测时间，降低检测成本。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 存储 阵列 检测 电路 方法 | ||
【主权项】：
一种存储阵列的检测电路，所述存储阵列包括呈阵列排布的待测存储单元，所述待测存储单元被编程前后的等效阻抗不相等；其特征在于，所述存储阵列的检测电路包括：N个检测单元，N为整数且N≥3；所述检测单元包括电压比较器，所述电压比较器的第一输入端适于输入基准电压，N个电压比较器的第二输入端相连并作为测试端，所述电压比较器的输出端适于输出二进制数据；输入第n个电压比较器的基准电压的电压值根据或者确定，其中，Vn为输入第n个电压比较器的基准电压的电压值，Rn为(N‑n)个所述待测存储单元被编程前的等效阻抗与(n‑1)个所述待测存储单元被编程后的等效阻抗并联的阻抗值，i为预先设定的检测电流的电流值。
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