[发明专利]一种基于单IO的IC卡并行测试方法

摘要

一种基于单IO的IC卡并行测试方法，涉及IC卡技术领域。本发明使用测试机对待测IC卡上的芯片进行并行测试。所述并行测试方法包括卡片接收命令方法和卡片发送数据方法，采用内部时钟采样命令IO，每bit对齐收发命令。其中卡片接收命令的方法步骤为：1）使用一个外部时钟周期的低电平作为起始标志；2）待测IC卡使用内部时钟采样命令IO对高低电平的长度进行采样计数；3）待测IC卡对每一组高低电平的计数进行判断；4）命令bit0~bit2传送命令类型，即确定了该命令的长度，待测IC卡顺序采样，收够指定长度的数据后，即跳出接收命令的循环。本发明采用内部时钟采样命令IO，每bit对齐进行命令收发，减少了时钟IO，增加同测卡片数量，有效减少测试成本。

主权项

1.一种基于单IO的IC卡并行测试方法，它使用测试机对待测IC卡上的芯片进行并行测试，所述并行测试方法包括卡片接收命令方法和卡片发送数据方法，采用内部时钟采样命令IO，每bit对齐接收命令，每bit对齐发送数据；其中卡片接收命令的方法步骤为：1）使用一个外部时钟周期的低电平作为起始标志，一个高电平和一个低电平为一组，表示1bit数据；2）待测IC卡使用内部时钟采样命令IO对高低电平的长度进行采样计数；3）待测IC卡对每一组高低电平的计数进行判断，如若采到高电平的个数大于采到低电平的个数，即判断该bit为1，反之则为0；4）命令bit0~bit2传送命令类型，即确定了该命令的长度，待测IC卡顺序采样，收够指定长度的数据后，即跳出接收命令的循环；其中卡片发送数据的方法步骤为：1)当待测IC卡收到读指令后，进入发送数据流程，等待内部时钟采样命令IO上的低电平脉冲指示信号；2)每检测到一次低电平脉冲，发送一bit数据，即在内部时钟采样命令IO低电平脉冲上升沿后，输出0或1并保持一段时间，测试机在这时间段取走数据；3) 发送数据结束后，内部时钟采样命令IO回归输入模式，等待下一次低电平脉冲直至全部数据发送完毕。