[发明专利]旋转位置检测装置在审
| 申请号： | 201410192677.X | 申请日： | 2014-05-08 |
| 公开（公告）号： | CN104142121A | 公开（公告）日： | 2014-11-12 |
| 发明（设计）人： | 西本圣司;河野祯之;胡安德宇枯宁 | 申请（专利权）人： | 株式会社电装 |
| 主分类号： | G01B7/30 | 分类号： | G01B7/30 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 陈珊;刘兴鹏 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种旋转位置检测装置。磁通发射单元(20)被安装到检测对象(20)上并且可以与检测对象(2)一体旋转。IC封装(30)包括磁检测元件(31)其根据在磁通发射元件(20)旋转时引起的磁通方向的改变发射信号。盖元件(40)包括底部(41)和管状部分(42)。管状部分(42)从底部(41)的外周延伸。当安装到壳体(5)时，盖元件(40)用底部围绕磁通发射单元(20)。支撑部分(50)从底部(41)朝管状部分(42)的开口(44)伸出以便支撑IC封装(30)。凸出物(60，70)从底部(41)朝向开口(44)伸出到至少一对应于磁检测元件(31)的位置。 | ||
| 搜索关键词： | 旋转 位置 检测 装置 | ||
【主权项】：
1.一种旋转位置检测装置，其被构造为检测检测对象(2)的旋转位置，检测对象(2)由壳体(5)可旋转地支撑，所述旋转位置检测装置包括：磁通发射单元(20)，其安装在检测对象(2)上并且被构造为与检测对象(2)一体旋转；IC封装(30)，其包括磁检测元件(31)，所述磁检测元件(31)被构造为根据在磁通发射单元(20)旋转时引起的磁通方向的改变发送信号；盖元件(40)，其包括底部(41)和管状部分(42)，所述管状部分(42)是管状的形状并且从底部(41)的外周延伸，盖元件(40)被构造为安装到壳体(5)以便在管状部分(42)的一侧由底部(41)围绕磁通发射单元(20)；支撑部分(50)，其从底部(41)沿朝向管状部分(42)的开口(44)的方向伸出，支撑部分(50)被构造为支撑IC封装(30)并且使磁检测元件(31)能够发送信号；和凸出物(60，70)，其与支撑部分(50)单独形成，凸出物(60，70)沿朝向开口(44)的方向伸出，凸出物(60，70)从底部(41)的围绕支撑部分(50)的部分伸出到至少一在凸出物(60，70)的轴线方向上对应于磁检测元件(31)的位置，其中凸出物(60，70)和IC封装(30)之间形成有间隔。
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