[发明专利]含局部超分辨扫描的小凹成像系统有效

专利信息
申请号: 201410193562.2 申请日: 2014-05-08
公开(公告)号: CN104007559B 公开(公告)日: 2017-05-17
发明(设计)人: 常军;査为懿;牛亚军;冯驰;王凡;许尧;冯萍 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G02B27/58 分类号: G02B27/58;G02B27/28;G02B27/46;G02B26/10;G02F1/13
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种含局部超分辨扫描的小凹成像系统,属于光学成像技术领域。本发明首先通过大视场光学系统进行成像,出射光瞳通过一偏振分光棱镜分为两束,其中一束直接成像在探测器上,另一束成像在中间像面上,二维扫描平台带动超分辨系统对该中间像进行局部扫描超分辨成像。其中,超分辨系统采用液晶空间光调制器作为超分辨光瞳滤波器,可以对光束进行动态、像素化的位相调制。本发明结构简单,可实现大视场低分辨率、局部小视场超分辨率成像,且应用本发明中的方法可以对现有的光学系统进行改造,实现局部超分辨成像。
搜索关键词: 局部 分辨 扫描 成像 系统
【主权项】:
一种含局部超分辨扫描的小凹成像系统,其特征在于:包括大视场成像系统(1),偏振分光棱镜(2),低分辨率探测器(3),中间像面(4),局部超分辨扫描系统(5),高分辨率探测器(6);其中大视场成像系统(1)成像接近衍射极限;偏振分光棱镜(2)将来自大视场成像系统的成像光束分为偏振方向相互垂直的两束线偏光,从而使得局部超分辨扫描系统(5)的超分辨系统(51)中的液晶空间光调制器后续对光束进行相位调制;其中一束线偏光直接成像在低分辨率探测器(3)上,另一束线偏光成像在中间像面(4)上;局部超分辨扫描系统(5)由超分辨系统(51)和二维扫描平台(52)构成,对中间像面(4)上的局部区域进行超分辨扫描并成像在高分辨率探测器上。
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