[发明专利]一种干式颗粒粒度测量方法有效

专利信息
申请号: 201410195041.0 申请日: 2014-05-09
公开(公告)号: CN103954537A 公开(公告)日: 2014-07-30
发明(设计)人: 贺亚峰;宫卫华;冯帆;张永亮;董丽芳 申请(专利权)人: 河北大学
主分类号: G01N15/02 分类号: G01N15/02
代理公司: 石家庄国域专利商标事务所有限公司 13112 代理人: 苏艳肃
地址: 071002 *** 国省代码: 河北;13
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摘要: 发明提供了一种干式颗粒粒度测量方法,该测量方法包括如下步骤:提供一真空室,在真空室内设置上、下极板及颗粒池;接通电源,使真空室内上、下极板之间产生均匀的等离子体;使颗粒池内的待测颗粒撒出,撒出的颗粒在真空室内的等离子体中形成分散、悬浮的颗粒体系;采用激光照射悬浮颗粒并发生散射;通过真空室上方的照相机记录颗粒的布朗运动轨迹图像;最后由计算机根据颗粒的布朗运动原理计算颗粒的粒径,并得出颗粒的粒度分布图。本发明操作简单、方便,测量迅速、准确,为实验室及工业领域的快速分析检测提供了一个解决方案。
搜索关键词: 一种 颗粒 粒度 测量方法
【主权项】:
一种干式颗粒粒度测量方法,其特征是,包括如下步骤:a、设置一真空室,在所述真空室内水平设置上下两个极板;使所述上极板接地,所述下极板连接一电源;b、在所述真空室内的上、下极板之间设置一颗粒池,在所述颗粒池内盛放待测颗粒;所述颗粒池与穿出所述真空室的振动杆相接;c、在所述真空室的上窗口的上方设置探测系统,所述探测系统连接计算机处理系统;在所述真空室外与所述真空室的侧窗口相对的地方设置光源系统;d、接通所述电源,使所述下极板带负电,且在所述上极板与所述下极板之间产生均匀的等离子体;e、在真空室外使所述振动杆振动,进而带动真空室内的所述颗粒池振动,使所述颗粒池内的待测颗粒从所述颗粒池中撒出;撒出的颗粒在所述等离子体区域中带负电,并在所述下极板上方附近形成稳态、分散的悬浮体系;f、打开光源系统,由光源系统所发的激光通过真空室的侧窗口照射到真空室内的悬浮颗粒上;g、打开探测系统,由探测系统中的照相机对激光所照射的颗粒进行录像;录像文件传送至所述计算机处理系统;h、所述计算机处理系统根据所接收到的录像文件,首先计算出颗粒的均方位移<r2>,之后根据颗粒的布朗运动原理,并依据公式<mrow><mi>R</mi><mo>=</mo><mfrac><mrow><msub><mi>k</mi><mi>B</mi></msub><mi>Tt</mi></mrow><mrow><mi>&pi;&eta;</mi><mo>&lt;</mo><msup><mi>r</mi><mn>2</mn></msup><mo>></mo></mrow></mfrac></mrow>计算颗粒的粒径R;式中,kB为玻尔兹曼常数,T为温度,t是录像时间,η是气体黏度,r是颗粒位置。
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